KR101556160B1 - Thin film transistor array panel - Google Patents

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Abstract

액정의 응답 속도를 개선할 수 있는 박막 트랜지스터 어레이 기판이 제공된다. 박막 트랜지스터 어레이 기판은, 절연 기판상에 서로 절연되며 교차되어 화소 영역을 정의하는 게이트 배선과 데이터 배선, 상기 게이트 배선과 데이터 배선의 교차부에 형성된 박막 트랜지스터, 상기 드레인 전극으로부터 연장되는 드레인 전극 확장부, 상기 데이터 배선과 적어도 일부가 중첩되어 평행하게 배향되는 용량성 전극으로서, 다른 일부가 상기 적어도 두 개의 화소 전극들과 중첩되고, 상기 데이터 배선에 대향하는 개구 또는 슬릿이 없도록 형성되는 용량성 전극; 및 적어도 일부가 상기 게이트 배선과 평행하게 배치되는 유지 전극선을 포함하되, 상기 용량성 전극 및 유지 전극선은 동일층 상에 배치되고, 상기 적어도 두 개의 화소 전극들 중 하나는 상기 데이터 배선의 제1 측면에 인접하게 배치되고 상기 두 개의 화소 전극들 중 다른 하나는 상기 데이터 배선의 상기 제1 측면의 반대 측면인 상기 데이터 배선의 제2 측면에 인접하게 배치되며, 상기 유지 전극선은 상기 드레인 전극 확장부에 완전히 중첩될 수 있다.A thin film transistor array substrate capable of improving the response speed of a liquid crystal is provided. The thin film transistor array substrate includes a gate wiring and a data wiring which are insulated from each other and intersected with each other on an insulating substrate to define a pixel region, a thin film transistor formed at an intersection of the gate wiring and the data wiring, A capacitive electrode formed so that at least a part of the capacitive electrode overlaps with the data line and is oriented parallel to the data line and another portion overlaps with the at least two pixel electrodes and is free of openings or slits opposed to the data lines; And at least one of the at least two pixel electrodes is connected to a first side of the data line and a second side of the data line, And the other of the two pixel electrodes is disposed adjacent to a second side of the data line which is the opposite side of the first side of the data line, and the sustain line line is connected to the drain electrode extension It can be completely overlapped.

Description

박막 트랜지스터 어레이 기판{Thin film transistor array panel}[0001] The present invention relates to a thin film transistor array panel

본 발명은 박막 트랜지스터 어레이 기판에 관한 것으로, 보다 상세하게는 액정의 응답 속도를 개선할 수 있는 박막 트랜지스터 어레이 기판에 관한 것이다.The present invention relates to a thin film transistor array substrate, and more particularly, to a thin film transistor array substrate capable of improving the response speed of a liquid crystal.

일반적으로, 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display)는 두 기판 사이에 주입되어 있는 이방성 유전율을 갖는 액정(Liquid Crystal)에 세기가 조절된 전계를 인가하여 기판에 투과되는 빛의 양을 조절함으로써 원하는 영상 신호를 얻는 표시 장치이다. 2. Description of the Related Art In general, a liquid crystal display (LCD) is a liquid crystal display device that applies an intensity-controlled electric field to a liquid crystal having anisotropic permittivity injected between two substrates to adjust the amount of light transmitted through the substrate, .

최근 액정의 응답 속도를 개선하기 위하여 여러 가지 연구들이 진행되어 왔다. 액정의 응답속도를 개선 하는 방법에는 구동 조건을 개선하는 방법, 액정 재료를 변경하는 방법, 설계 구조를 변경하는 방법 등이 있다. 여기에서, 구동 조건을 개선하는 방법은 첫째로, 구동 전압(AVDD)을 높여 라이징 타임(rising time)을 빠르게 하면 액정의 응답 속도는 개선되나 소비 전력이 증가되는 문제가 있다. 둘째로, 오프셋(offset) 전압을 낮추게 되면 폴링 타임(falling time) 빨라져 액정의 응답 속도는 일부 개선되나 타겟 감마 곡선(target gamma curve)의 감마값을 맞추기 위해 오프셋 전압을 일정 전압 이하로 낮추기가 힘들다. 셋째로, 공통 전압의 최적화를 통해 액정의 응답 속도를 일부 개선할 수 있으나 잔상 및 플리커 등의 다른 문제점들이 발생하게 된다.Recently, various studies have been conducted to improve the response speed of liquid crystal. Methods for improving the response speed of the liquid crystal include a method of improving the driving conditions, a method of changing the liquid crystal material, and a method of changing the design structure. Here, as a method for improving the driving condition, first, there is a problem that the response speed of the liquid crystal is improved but the power consumption is increased if the rising time is increased by raising the driving voltage AVDD. Secondly, when the offset voltage is lowered, the falling time is increased and the response speed of the liquid crystal is partially improved. However, it is difficult to lower the offset voltage below a predetermined voltage to match the gamma value of the target gamma curve. Third, although the response speed of the liquid crystal can be partially improved through optimization of the common voltage, other problems such as afterimage and flicker occur.

또한, 액정의 재료를 변경하는 방법은 재료 개발에 한계점이 존재한다.Further, there are limitations in the method for changing the material of the liquid crystal.

상기와 같은 방법들 중 설계 구조를 변경하는 방법이 액정의 응답 속도를 향상시키기에 적합한 방법이나 여전히 응답 속도에 딜레이가 발생하게 된다.Among the above methods, a method of changing the design structure is suitable for improving the response speed of the liquid crystal, but the response speed is still delayed.

한편, 한 프레임 동안 액정이 느끼는 전압은 수학식 1에 의해 표현될 수 있다.On the other hand, the voltage sensed by the liquid crystal during one frame can be expressed by Equation (1).

<수학식 1> V = Q/(Cst+Clc)&Quot; (1) &quot; V = Q / (Cst + Clc)

여기에서, 박막 트랜지스터 구동시 한 프레임 동안 충전된 전하량(Q)은 전하량 보존 법칙에 의해 일정하게 유지되나 액정 캐패시터(Clc)가 변화함에 따라 데이터 전압(V)도 변하게 된다. 다시 말하면, 액정 캐패시터(Clc)가 변화함에 따라 화소 전극에 인가되는 데이터 전압(V) 작아져서 커스프(cusp)가 발생할 수 있다. 그 결과, 응답 속도에 딜레이가 발생한다. 예를 들면, 화소 전극에 데이터 전압이 인가되는 경우를 블랙(4V), 화소 전극에 데이터 전압이 인가되지 않는 경우를 화이트(0.5V), 화소 전극이 블랙에서 화이트 상태로 변할 때 유지 캐패시터(Cst)의 값을 0, 화소 전극이 블랙 상태인 경우 유전율을 13.5, 화이트 상태인 경우 유전율을 3.6이라고 가정한다면, Q=(Cst+Clc)*V 식에 의해 화소 전극이 블랙 상태인 경우 액정에 충전된 전하량(Q)은 6.75가 된다. 그리고, 액정에 충전된 전하량(Q)은 전하량 보존의 법칙에 의해 유지되므로 화소 전극이 화이트 상태인 경우의 전압은 6.75=(0+3.6)*V 식에 의해 V는 1.875가 된다. 따라서, 화소 전극에 데이터 전압이 인가되지 않은 경우 이때에 데이터 전압은 0.5V가 아니라 1.875 V 즉, 그레이(gray) 상태가 되어 커스프(cusp)가 발생하게 된다. 이는 유지 캐패시터(Cst)의 용량 부족으로 인해 현재 프레임과 다음 프레임 경계에서 발생한다.Here, the amount of charge Q charged during one frame during the driving of the thin film transistor is kept constant by the charge conservation law, but the data voltage V changes as the liquid crystal capacitor Clc changes. In other words, as the liquid crystal capacitor Clc changes, the data voltage V applied to the pixel electrode may be reduced and a cusp may be generated. As a result, a delay occurs in response speed. For example, when the data voltage is applied to the pixel electrode in black (4V), when the data voltage is not applied to the pixel electrode in white (0.5V), and when the pixel electrode is changed from black to white, the holding capacitor Cst ) Is 0, the permittivity is 13.5 when the pixel electrode is in the black state, and the permittivity is 3.6 when it is in the white state. If the pixel electrode is black by the equation Q = (Cst + Clc) * V, The amount of charge (Q) becomes 6.75. Since the amount of charge Q in the liquid crystal is maintained by the law of conserving the charge amount, the voltage when the pixel electrode is in the white state is 1.875 by the equation 6.75 = (0 + 3.6) * V. Therefore, when the data voltage is not applied to the pixel electrode, the data voltage is 1.875 V, that is, gray state instead of 0.5V, and a cusp is generated. This occurs at the current frame and next frame boundary due to capacity shortage of the holding capacitor Cst.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 액정의 응답 속도를 개선할 수 있는 박막 트랜지스터 어레이 기판을 제공하고자 하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a thin film transistor array substrate capable of improving the response speed of a liquid crystal.

본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The technical objects of the present invention are not limited to the above-mentioned technical problems, and other technical subjects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판은, 절연 기판상에 서로 절연되며 교차되어 화소 영역을 정의하는 게이트 배선과 데이터 배선, 상기 게이트 배선과 데이터 배선의 교차부에 형성된 박막 트랜지스터, 상기 드레인 전극으로부터 연장되는 드레인 전극 확장부, 상기 데이터 배선과 적어도 일부가 중첩되어 평행하게 배향되는 용량성 전극으로서, 다른 일부가 상기 적어도 두 개의 화소 전극들과 중첩되고, 상기 데이터 배선에 대향하는 개구 또는 슬릿이 없도록 형성되는 용량성 전극; 및 적어도 일부가 상기 게이트 배선과 평행하게 배치되는 유지 전극선을 포함하되, 상기 용량성 전극 및 유지 전극선은 동일층 상에 배치되고, 상기 적어도 두 개의 화소 전극들 중 하나는 상기 데이터 배선의 제1 측면에 인접하게 배치되고 상기 두 개의 화소 전극들 중 다른 하나는 상기 데이터 배선의 상기 제1 측면의 반대 측면인 상기 데이터 배선의 제2 측면에 인접하게 배치되며, 상기 유지 전극선은 상기 드레인 전극 확장부에 완전히 중첩될 수 있다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
According to an aspect of the present invention, there is provided a thin film transistor array substrate including a gate wiring and a data wiring which are insulated from each other and intersected with each other to define a pixel region, A drain electrode extension extending from the drain electrode, and a capacitive electrode which is at least partially overlapped and aligned in parallel with the data line, wherein another portion overlaps with the at least two pixel electrodes, A capacitive electrode formed so as to have no opening or slit facing the wiring; And at least one of the at least two pixel electrodes is connected to a first side of the data line and a second side of the data line, And the other of the two pixel electrodes is disposed adjacent to a second side of the data line which is the opposite side of the first side of the data line, and the sustain line line is connected to the drain electrode extension It can be completely overlapped.
The details of other embodiments are included in the detailed description and drawings.

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상기한 바와 같은 본 발명에 따른 박막 트랜지스터 기판은, 데이터선과 오버랩되는 플로팅 전극을 형성하여 유지 캐패시터의 용량을 증가시킴으로써 액정의 응답 속도를 향상시킬 수 있다.As described above, the thin film transistor substrate according to the present invention can improve the response speed of the liquid crystal by increasing the capacitance of the holding capacitor by forming the floating electrode overlapping the data line.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 액정 표시 장치의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 제2 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 액정 표시 장치의 블록도이다.
도 3은 도 1의 블록도에 적용되는 본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 나타내는 배치도이다.
도 4는 도 3의 Ⅱa'-Ⅱa" 및 Ⅱb'-Ⅱb" 선을 따라 절단한 단면도이다.
도 5는 도 3의 A 부분의 개략적인 단면도이다.
도 6 및 도 7은 본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판의 데이터 배선과 화소 전극의 배치를 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판의 플로팅 전극의 다양한 변형을 나타내는 평면도이다.
도 9는 도 2의 블록도에 적용되는 본 발명의 제2 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 나타내는 배치도이다.
도 10은 도 9의 Ⅱa'-Ⅱa" 및 Ⅱb'-Ⅱb" 선을 따라 절단한 단면도이다.
도 11은 본 발명의 제3 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 나타내는 배치도이다.
도 12는 도 11의 Ⅱa'-Ⅱa" 및 Ⅱb'-Ⅱb" 선을 따라 절단한 단면도이다.
도 13 및 14는 본 발명의 제3 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판의 데이터 배선과 화소 전극의 배치를 나타내는 도면이다.
도 15는 본 발명의 제3 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판의 플로팅 전극의 다양한 변형을 나타내는 평면도이다.
도 16은 본 발명의 제4 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 나타내는 배치도이다.
도 17은 도 16의 Ⅱa'-Ⅱa" 및 Ⅱb'-Ⅱb" 선을 따라 절단한 단면도이다.
1 is a block diagram of a liquid crystal display including a thin film transistor array substrate according to a first embodiment of the present invention.
2 is a block diagram of a liquid crystal display including a thin film transistor array substrate according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a layout diagram showing a thin film transistor array substrate according to a first embodiment of the present invention, which is applied to the block diagram of FIG.
4 is a cross-sectional view taken along line IIa'-IIa 'and IIb'-IIb' in FIG. 3;
5 is a schematic cross-sectional view of part A of Fig.
6 and 7 are views showing the arrangement of the data lines and the pixel electrodes of the thin film transistor array substrate according to the first embodiment of the present invention.
8 is a plan view showing various modifications of the floating electrode of the thin film transistor array substrate according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a layout diagram showing a thin film transistor array substrate according to a second embodiment of the present invention, which is applied to the block diagram of FIG. 2. FIG.
10 is a cross-sectional view taken along lines IIa'-IIa 'and IIb'-IIb' in FIG.
11 is a layout diagram showing a thin film transistor array substrate according to a third embodiment of the present invention.
12 is a cross-sectional view taken along line IIa'-IIa 'and IIb'-IIb' of FIG.
13 and 14 are views showing the arrangement of the data lines and the pixel electrodes of the thin film transistor array substrate according to the third embodiment of the present invention.
15 is a plan view showing various modifications of the floating electrode of the thin film transistor array substrate according to the third embodiment of the present invention.
16 is a layout diagram showing a thin film transistor array substrate according to a fourth embodiment of the present invention.
17 is a cross-sectional view taken along lines IIa'-IIa 'and IIb'-IIb' in FIG.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있을 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것으로, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention, and the manner of achieving them, will be apparent from and elucidated with reference to the embodiments described hereinafter in conjunction with the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. To fully disclose the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 액정 표시 장치의 블록도이고, 도 2는 본 발명의 제2 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 액정 표시 장치의 블록도이다.FIG. 1 is a block diagram of a liquid crystal display device including a thin film transistor array substrate according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view of a liquid crystal display device including a thin film transistor array substrate according to a second embodiment of the present invention. Block diagram.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 액정표시장치는 액정 패널(100), 구동 전압 발생부(200), 게이트 구동부(300), 감마 전압 발생부(400), 데이터 구동부(500), 타이밍 제어부(600)를 포함한다.1 and 2, the liquid crystal display of the present invention includes a liquid crystal panel 100, a driving voltage generating unit 200, a gate driving unit 300, a gamma voltage generating unit 400, a data driving unit 500, And a timing controller 600.

액정 패널(100)은 등가 회로로 볼 때 다수의 표시 신호선(G1 - Gn, D1 -Dm)과 이에 연결되어 있으며, 매트릭스(matrix) 형태로 배열된 다수의 단위 화소(pixel)를 포함한다.The liquid crystal panel 100 is connected to a plurality of display signal lines G1 to Gn and D1 to Dm in terms of an equivalent circuit and includes a plurality of unit pixels arranged in a matrix form.

여기서, 표시 신호선(G1 - Gn, D1 - Dm)은 게이트 신호를 전달하는 다수의 게이트선(G1 - Gn)과 데이터 신호를 전달하는 데이터선(D1 - Dm)을 포함한다. 게이트선(G1 - Gn)은 행방향으로 뻗어 있으며 서로가 거의 평행하고 데이터선(D1 - Dm)은 열방향으로 뻗어 있으며 서로가 거의 평행하다.The display signal lines G1-Gn and D1-Dm include a plurality of gate lines G1-Gn for transmitting gate signals and data lines D1-Dm for transferring data signals. The gate lines G1 - Gn extend in the row direction, are substantially parallel to each other, the data lines D1 - Dm extend in the column direction, and are substantially parallel to each other.

각 단위 화소는 표시 신호선(G1 - Gn, D1 - Dm)에 연결된 스위칭 소자(Q)와 이에 연결된 액정 커패시터(liquid crystal capacitor)(Clc) 및 유지 커패시터(storage capacitor)(Cst)를 포함한다. 유지 커패시터(Cst)는 필요에 따라 생략할 수 있다.Each unit pixel includes a switching element Q connected to the display signal lines G1-Gn and D1-Dm and a liquid crystal capacitor Clc and a storage capacitor Cst connected thereto. The storage capacitor Cst may be omitted as needed.

스위칭 소자(Q)는 TFT 기판에 구비되어 있으며, 삼단자 소자로서 그 제어 단자 및 입력 단자는 각각 게이트선(G1 - Gn) 및 데이터선(D1 - Dm)에 연결되어 있으며, 출력 단자는 액정 커패시터(Clc) 및 유지 커패시터(Cst)에 연결되어 있다.The switching element Q is provided on the TFT substrate. The control terminal and the input terminal of the switching element Q are connected to the gate lines G1 to Gn and the data lines D1 to Dm, respectively, (Clc) and the storage capacitor (Cst).

액정 커패시터(Clc)는 TFT 기판의 화소 전극과 컬러 필터 기판의 공통 전극을 두 단자로 하며 두 전극 사이의 액정층은 유전체로서 기능한다. 화소 전극은 스위칭 소자(Q)에 연결되며 공통 전극은 컬러 필터 기판의 전면에 형성되어 있고 공통 전압(Vcom)을 인가받는다. 여기에서, 공통 전극이 TFT 기판에 구비되는 경우도 있으며 이때에는 두 전극이 모두 선형 또는 막대형으로 만들어진다.The liquid crystal capacitor Clc has two terminals, that is, a pixel electrode of the TFT substrate and a common electrode of the color filter substrate, and the liquid crystal layer between the two electrodes functions as a dielectric. The pixel electrode is connected to the switching element Q and the common electrode is formed on the front surface of the color filter substrate and receives the common voltage Vcom. Here, the common electrode may be provided on the TFT substrate, and both electrodes are made linear or rod-shaped.

본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 액정 표시 장치와 본 발명의 제2 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 액정 표시 장치는, 도 1 및 도 2에서와 같이 다음을 제외하고는 기본적으로 동일한 구조를 갖는다. 1 and 2, a liquid crystal display device including a thin film transistor array substrate according to a first embodiment of the present invention and a thin film transistor array substrate according to a second embodiment of the present invention includes: And has basically the same structure.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 액정 표시 장치의 경우, 유지 커패시터(Cst)는 화소 전극이 절연체를 매개로 바로 위의 전단 게이트선과 중첩되어 형성되는 전단 게이트 방식을 사용한다. 여기에서, 첫 번째 행의 화소는 전단의 게이트선이 없으므로 첫 번째 화소 행의 유지 용량용 게이트선(G0)을 추가하여 공통 전압(Vcom)을 인가함으로써 유지 캐패시터를 형성한다. 1, in the case of a liquid crystal display device including a thin film transistor array substrate according to the first embodiment of the present invention, the storage capacitor Cst has a structure in which the pixel electrode overlaps with the previous gate line immediately above the insulator A shear gate method is used. Here, since the pixels of the first row have no gate line at the previous stage, the storage capacitor gate line G0 of the first pixel row is added and the common voltage Vcom is applied to form the storage capacitor.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 액정 표시 장치의 경우, 유지 커패시터(Cst)는 박막 트랜지스터 기판에 구비된 별도의 신호선과 화소 전극이 중첩되어 이루어지며 이 별도의 신호선에는 공통 전압(Vcom) 등의 정해진 전압이 인가되는 독립 배선 방식을 사용한다. 즉, 본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 액정 표시 장치와 본 발명의 제2 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 액정 표시 장치는 유지 커패시터(Cst)를 형성하는 방법만 차이가 있을 뿐이며, 실질적으로 동일하게 구동될 수 있다.2, in the case of a liquid crystal display device including a thin film transistor array substrate according to the second embodiment of the present invention, the storage capacitor Cst has a structure in which a separate signal line provided on the thin film transistor substrate and a pixel electrode overlap each other And an independent wiring method in which a predetermined voltage such as the common voltage Vcom is applied to the separate signal line is used. That is, the liquid crystal display device including the thin film transistor array substrate according to the first embodiment of the present invention and the thin film transistor array substrate according to the second embodiment of the present invention includes the storage capacitor Cst Only the method is different and can be driven substantially the same.

한편, 색 표시를 구현하기 위해서는 각 단위 화소가 색상을 표시할 수 있도록 하여야 하는데, 이는 화소 전극에 대응하는 영역에 적색, 녹색, 또는 청색의 컬러 필터를 구비함으로써 가능하다. 여기에서, 컬러 필터는 컬러 필터 기판의 해당 영역에 형성할 수 있으며, 또한, TFT 기판의 화소 전극 위 또는 아래에 형성할 수도 있다.On the other hand, in order to realize color display, each unit pixel must be able to display a color, which can be achieved by providing a red, green, or blue color filter in a region corresponding to the pixel electrode. Here, the color filter may be formed in the corresponding region of the color filter substrate, or may be formed on or below the pixel electrode of the TFT substrate.

액정 패널(100)의 TFT 기판 및 컬러 필터 기판 중 적어도 하나의 바깥 면에는 빛을 편광시키는 편광자(도시하지 않음)가 부착된다.A polarizer (not shown) for polarizing light is attached to the outer surface of at least one of the TFT substrate and the color filter substrate of the liquid crystal panel 100.

구동 전압 발생부(200)는 다수의 구동 전압을 생성한다. 예를 들어, 구동 전압 발생부(200)는 게이트 온 전압(Von)과 게이트 오프 전압(Voff) 및 공통 전압(Vcom)을 생성한다.The driving voltage generator 200 generates a plurality of driving voltages. For example, the driving voltage generator 200 generates the gate-on voltage Von, the gate-off voltage Voff, and the common voltage Vcom.

게이트 구동부(300)는 액정 패널(100)의 게이트선(G1 - Gn)에 연결되어 외부로부터의 게이트 온 전압(Von)과 게이트 오프 전압(Voff)의 조합으로 이루어진 게이트 신호를 게이트선(G1 - Gn)에 인가한다.The gate driver 300 is connected to the gate lines G1 to Gn of the liquid crystal panel 100 and supplies a gate signal composed of a combination of the gate on voltage Von and the gate off voltage Voff from the outside to the gate lines G1- Gn.

감마 전압 발생부(400)는 단위 화소의 투과율과 관련된 두 벌의 복수 감마 전압을 생성할 수 있다. 즉, 두 벌 중 한 벌은 정극성 데이터 전압이고, 다른 한 벌은 부극성 데이터 전압이 된다. 정극성 데이터 전압과 부극성 데이터 전압은 공통 전압(Vcom)에 대해 데이터 전압의 극성이 반대인 전압을 의미하며, 반전 구동시 교대하여 액정 패널에 각각 제공된다.The gamma voltage generator 400 may generate two sets of gamma voltages related to the transmittance of the unit pixel. That is, one of the two sets is the positive data voltage and the other set is the negative data voltage. The positive polarity data voltage and the negative polarity data voltage are voltages having opposite polarity to the common voltage (Vcom), and are alternately provided to the liquid crystal panel in the inversion driving.

데이터 구동부(500)는 액정 패널(100)의 데이터선(D1 - Dm)에 연결되어 있으며, 감마 전압 발생부(400)로부터 제공된 다수의 감마 전압에 기초하여 다수의 데이터 전압을 생성하고, 생성된 데이터 전압을 선택하여 데이터 신호로서 단위 화소에 인가하며 통상 다수의 집적 회로로 이루어진다.The data driver 500 is connected to the data lines D1 to Dm of the liquid crystal panel 100 and generates a plurality of data voltages based on the plurality of gamma voltages supplied from the gamma voltage generator 400, A data voltage is selected and applied to a unit pixel as a data signal and is usually composed of a plurality of integrated circuits.

타이밍 제어부(600)는 게이트 구동부(300) 및 데이터 구동부(500) 등의 동작을 제어하는 제어 신호를 생성하여, 각 해당하는 제어 신호를 게이트 구동부(300) 및 데이터 구동부(500)에 제공한다.The timing controller 600 generates a control signal for controlling operations of the gate driver 300 and the data driver 500 and supplies the corresponding control signals to the gate driver 300 and the data driver 500. [

도 3은 도 1의 블록도에 적용되는 본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 나타내는 배치도이고, 도 4는 도 3의 Ⅱa'-Ⅱa" 및 Ⅱb'-Ⅱb" 선을 따라 절단한 단면도이고, 도 5는 도 3의 A 부분의 개략적인 단면도이고, 도 6 및 도 7은 본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판의 데이터 배선과 화소 전극의 배치를 나타내는 도면이고, 도 8은 본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판의 플로팅 전극의 다양한 변형을 나타내는 평면도이다.FIG. 3 is a layout view showing a thin film transistor array substrate according to a first embodiment of the present invention, which is applied to the block diagram of FIG. 1, and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along the line IIa'-IIa "and IIb'- And FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of part A of FIG. 3, and FIGS. 6 and 7 are views showing the arrangement of data lines and pixel electrodes of a thin film transistor array substrate according to the first embodiment of the present invention, 8 is a plan view showing various modifications of the floating electrode of the thin film transistor array substrate according to the first embodiment of the present invention.

도 3 및 도 4를 참조하면, 절연 기판(10) 위에 게이트 신호를 전달하는 다수 개의 게이트 배선이 형성되어 있다. 게이트 배선(22, 24, 26, 27, 28)은 가로 방향으로 뻗어 있는 게이트선(22), 게이트선(22)의 끝에 연결되어 있어 외부로부터의 게이트 신호를 인가받아 게이트선으로 전달하는 게이트 끝단(24), 게이트선(22)에 연결되어 돌기 형태로 형성된 박막 트랜지스터의 게이트 전극(26), 게이트선(22)과 평행하게 형성되어 있는 유지 전극(28) 및 게이트선(22)과 전단의 게이트선(28) 사이에 게이트선(22)과 수직한 방향으로 형성되어 있는 플로팅 전극(27)을 포함한다.Referring to FIGS. 3 and 4, a plurality of gate wirings for transferring a gate signal are formed on an insulating substrate 10. The gate wirings 22, 24, 26, 27 and 28 are connected to the gate lines 22 extending in the horizontal direction and the gate ends 22 for receiving the gate signals from the outside and transmitting them to the gate lines. A gate electrode 26 of the thin film transistor formed in the form of a projection connected to the gate line 22, a sustain electrode 28 and a gate line 22 formed in parallel with the gate line 22, And a floating electrode 27 formed between the gate lines 28 in a direction perpendicular to the gate lines 22. [

유지 전극(28)은 후술할 화소 전극(82)과 오버랩되어 화소의 전하 보존 능력을 향상시키는 유지 캐패시터(Cst1)를 형성한다. 이와 같은 유지 전극(28)의 모양 및 배치 등은 다양한 형태로 변형될 수 있다. The sustain electrode 28 overlaps the pixel electrode 82 to be described later to form a storage capacitor Cst1 for improving the charge storage ability of the pixel. The shape and arrangement of the sustain electrodes 28 may be modified into various shapes.

플로팅 전극(27)은 도 4에서와 같이 게이트배선(22, 24, 26, 28)과 동일층 상에 형성되고, 전계가 인가되지 않는 플로팅 상태를 가지며, 데이터선(62)과 적어도 일부분이 오버랩되도록 평행하게 형성되어 있다. 그리고, 도 3의 "A"에서와 같이 플로팅 전극(27)은 데이터선(62) 및 화소 전극(82)과 적어도 일부분이 오버랩되도록 형성되어 있어 제1 내지 제3 오버랩 캐패시터(Cid, Cif, Cdf)를 형성한다. 도 5에서와 같이, 제1 오버랩 캐패시터(Cid)는 화소 전극(82)과 데이터선(62) 사이에 형성되고, 제2 오버랩 캐패시터(Cif) 화소 전극(82)과 플로팅 전극(27) 사이에 형성되고, 제3 오버랩 캐패시터(Cdf)는 데이터선(62)과 플로팅 전극(27) 사이에 각각 형성된다. 따라서, 본 발명에서는 게이트 배선(22) 사이에 데이터선(62)과 오버랩되도록 플로팅 전극(27)이 형성됨에 따라 유지 캐패시터(Cst1)에 제1 및 제3 오버랩 캐패시터(Cid, Cif, Cdf)가 추가로 형성되어 유지 캐패시터(Cst)의 용량이 증가되는데 이를 수식으로 나타내면 다음과 같이 표현할 수 있다.The floating electrode 27 is formed on the same layer as the gate wirings 22, 24, 26 and 28 as shown in FIG. 4, has a floating state in which no electric field is applied, As shown in FIG. 3, the floating electrode 27 is formed so as to overlap at least a part of the data line 62 and the pixel electrode 82, and the first to third overlap capacitors Cid, Cif, Cdf ). 5, the first overlap capacitor Cid is formed between the pixel electrode 82 and the data line 62, and between the second overlap capacitor Cif pixel electrode 82 and the floating electrode 27 And a third overlap capacitor Cdf is formed between the data line 62 and the floating electrode 27, respectively. Accordingly, in the present invention, since the floating electrode 27 is formed between the gate lines 22 so as to overlap with the data line 62, the first and third overlap capacitors Cid and Cif and Cdf are connected to the storage capacitor Cst1 And the capacity of the holding capacitor Cst is increased. This can be expressed as the following equation.

<수학식 2> Cst = Cst1 + [Cid+ (Cif || Cdf)]&Quot; (2) &quot; Cst = Cst1 + [Cid + (Cif || Cdf)]

여기에서, 캐피시터의 용량은 전극의 면적과 전극 사이의 거리에 따라 변하게 되므로, 플로팅 전극(27)의 면적을 크게 형성함으로써 데이터선(62)과 플로팅 전극(27) 사이에 형성되는 제3 오버랩 캐패시터(Cdf)의 용량을 증가시킬 수 있다.Since the capacitance of the capacitor varies depending on the area of the electrode and the distance between the electrodes, the area of the floating electrode 27 is increased to increase the capacitance of the third overlap capacitor 27 formed between the data line 62 and the floating electrode 27. [ (Cdf) can be increased.

이렇게 제3 오버랩 캐패시터(Cdf)의 용량을 증가시켜 전체 유지 캐패시터(Cst)의 용량을 증가시키게 되면, 박막 트랜지스터 구동시 하나의 화소는 한 프레임 동안 화소 전극에 데이터 전압이 인가되는 경우(블랙 상태), 유지 캐패시터(Cst)에 전하를 충전하고, 다음 프레임에서 화소 전극에 데이터 전압이 인가되지 않는 경우(화이트 상태), 유지 캐패시터(Cst)에 전하를 방전하는 속도가 빨라지게 된다. 이로 인해 현재 프레임과 다음 프레임 사이에 발생하는 커스프(cusp) 현상으로 인해 액정의 응답속도가 딜레이되는 것을 방지할 수 있어 액정의 응답속도를 개선할 수 있다.When the capacitance of the third overlap capacitor Cdf is increased to increase the capacitance of the entire storage capacitor Cst, when one pixel is driven in the thin film transistor, the data voltage is applied to the pixel electrode during one frame (black state) , The storage capacitor Cst is charged, and the rate of discharging the charge to the storage capacitor Cst is increased when the data voltage is not applied to the pixel electrode in the next frame (white state). As a result, the response speed of the liquid crystal can be prevented from being delayed due to the cusp phenomenon occurring between the current frame and the next frame, thereby improving the response speed of the liquid crystal.

그리고, 플로팅 전극(27)은 도 3에서와 같이 다각 패턴으로 형성될 수 있으며, 또한, 도 8a 내지 도 8h에서와 같이 데이터 배선과 오버랩되는 부분이 적어도 일부분 오픈되어 있는 다각 패턴으로 형성될 수 있다. 이때, 플로팅 전극(27)은 데이터선(62)을 사이에 두고 형성된 제1 및 제2 전극(27a, 27b)을 포함하며, 제1 및 제2 전극(27a, 27b)은 데이터선(62)과 적어도 일부분이 오버랩되는 연결 전극(27c)에 의해 연결되어 있다. The floating electrode 27 may be formed in a polygonal pattern as shown in FIG. 3, or may be formed in a polygonal pattern in which a portion overlapping the data line is at least partially open as in FIGS. 8A to 8H . The floating electrode 27 includes first and second electrodes 27a and 27b formed with a data line 62 sandwiched therebetween and the first and second electrodes 27a and 27b are connected to the data line 62. [ And at least a part of which is overlapped with the connection electrode 27c.

또한, 도 6에서와 같이 플로팅 전극(27) 상부에는 데이터선(62)을 기준으로 일측에 플로팅 전극(27)과 적어도 일부분이 오버랩되는 화소 전극(82)이 형성될 수 있다. 그리고, 도 7에서와 같이 플로팅 전극(27) 상부에는 데이터선(62)을 기준으로 양측에 플로팅 전극(27)과 적어도 일부분이 오버랩되는 화소 전극(82)이 형성될 수 있다. As shown in FIG. 6, a pixel electrode 82 may be formed on the floating electrode 27 to overlap the floating electrode 27 on at least a portion of the data line 62. 7, a pixel electrode 82 may be formed on the floating electrode 27 so that at least a portion of the pixel electrode 82 overlaps the floating electrode 27 on both sides with respect to the data line 62. Referring to FIG.

게이트 배선(22, 24, 26, 28)과 플로팅 전극(27)은 알루미늄(Al)과 알루미늄 합금 등 알루미늄 계열의 금속, 은(Ag)과 은 합금 등 은 계열의 금속, 구리(Cu)와 구리 합금 등 구리 계열의 금속, 몰리브덴(Mo)과 몰리브덴 합금 등 몰리브덴 계열의 금속, 크롬(Cr), 티타늄(Ti), 탄탈륨(Ta) 따위로 이루어질 수 있다. 또한, 게이트 배선(22, 24, 26, 28)과 플로팅 전극(27)은 물리적 성질이 다른 두 개의 도전막(도시하지 않음)을 포함하는 다중막 구조를 가질 수 있다. 이 중 한 도전막은 게이트 배선(22, 24, 26, 28)의 신호 지연이나 전압 강하를 줄일 수 있도록 낮은 비저항(resistivity)의 금속, 예를 들면 알루미늄 계열 금속, 은 계열 금속, 구리 계열 금속 등으로 이루어진다. 이와는 달리, 다른 도전막은 다른 물질, 특히 ITO(indium tin oxide) 및 IZO(indium zinc oxide)와의 접촉 특성이 우수한 물질, 이를테면 몰리브덴 계열 금속, 크롬, 티타늄, 탄탈륨 등으로 이루어진다. 이러한 조합의 좋은 예로는 크롬 하부막과 알루미늄 상부막 및 알루미늄 하부막과 몰리브덴 상부막을 들 수 있다. 다만, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 게이트 배선(22, 24, 26, 28)과 플로팅 전극(27)은 다양한 여러 가지 금속과 도전체로 만들어질 수 있다.The gate wirings 22, 24, 26 and 28 and the floating electrode 27 are made of a metal of aluminum series such as aluminum (Al) and an aluminum alloy, a series metal such as silver (Ag) Alloys and molybdenum metals such as molybdenum (Mo) and molybdenum alloys, chromium (Cr), titanium (Ti), tantalum (Ta) and the like. Further, the gate wiring lines 22, 24, 26, and 28 and the floating electrode 27 may have a multi-film structure including two conductive films (not shown) having different physical properties. One of the conductive films is made of a metal having a low resistivity such as an aluminum-based metal, a silver-based metal, a copper-based metal or the like so as to reduce signal delay or voltage drop of the gate wirings 22, 24, . Alternatively, the other conductive film may be made of a material having excellent contact properties with other materials, particularly ITO (indium tin oxide) and IZO (indium zinc oxide), such as molybdenum metal, chromium, titanium, tantalum and the like. A good example of such a combination is a chromium bottom film, an aluminum top film, an aluminum bottom film and a molybdenum top film. However, the present invention is not limited thereto, and the gate wirings 22, 24, 26, and 28 and the floating electrode 27 may be formed of various metals and conductors.

기판(10), 게이트 배선(22, 24, 26, 28)과 플로팅 전극(27)의 위에는 질화 규소(SiNx) 등으로 이루어진 게이트 절연막(30)이 형성되어 있다.A gate insulating film 30 made of silicon nitride (SiNx) or the like is formed on the substrate 10, the gate wirings 22, 24, 26, and 28 and the floating electrode 27.

게이트 전극(26)의 게이트 절연막(30) 상부에는 수소화 비정질 규소 또는 다결정 규소 등의 반도체로 이루어진 반도체층(44)이 섬 모양으로 형성되어 있으며, 반도체층(44)의 상부에는 실리사이드 또는 n형 불순물이 고농도로 도핑된 n+ 수소화 비정질 규소 등의 물질로 이루어진 저항성 접촉층(55, 56)이 각각 형성되어 있다.A semiconductor layer 44 made of a semiconductor such as hydrogenated amorphous silicon or polycrystalline silicon is formed in an island shape on the gate insulating film 30 of the gate electrode 26. A silicide or n-type impurity Resistive contact layers 55 and 56 made of a material such as n + hydrogenated amorphous silicon doped with the high concentration are formed.

저항성 접촉층(55, 56) 및 게이트 절연막(30) 위에는 데이터 배선(62, 65, 66, 67, 68)이 형성되어 있다. 데이터 배선(62, 65, 66, 67, 68)은 세로 방향으로 형성되어 게이트선(22)과 교차하여 화소를 정의하는 데이터선(62), 데이터선(62)의 분지이며 저항성 접촉층(55)의 상부까지 연장되어 있는 소스 전극(65), 데이터선(62)의 한쪽 끝에 연결되어 외부로부터의 화상 신호를 인가받는 데이터 끝단(68), 소스 전극(65)과 분리되어 있으며 게이트 전극(26) 또는 박막 트랜지스터의 채널부에 대하여 소스 전극(65)의 반대쪽 저항성 접촉층(56) 상부에 형성되어 있는 드레인 전극(66) 및 드레인 전극(66)으로부터 연장되어 화소 전극(27)과 오버랩되는 드레인 전극 확장부(67)를 포함한다. Data lines 62, 65, 66, 67, and 68 are formed on the ohmic contact layers 55 and 56 and the gate insulating film 30, respectively. The data lines 62, 65, 66, 67, and 68 are vertically formed and intersect the gate line 22 to define a pixel. The data line 62 is a branch of the data line 62, and the ohmic contact layer 55 A data terminal 68 connected to one end of the data line 62 to receive an image signal from the outside and a source electrode 65 separated from the gate electrode 26 ) Or a drain electrode 66 extending from the drain electrode 66 and the drain electrode 66 formed on the resistive contact layer 56 on the opposite side of the source electrode 65 to the channel portion of the thin film transistor and overlapping the pixel electrode 27 And an electrode extension portion 67.

이러한 데이터 배선(62, 65, 66, 67, 68)은 데이터선(62), 소스 전극(65) 및 드레인 전극(66)은 크롬, 몰리브덴 계열의 금속, 탄탈륨 및 티타늄 등 내화성 금속으로 이루어지는 것이 바람직하며, 내화성 금속 따위의 하부막(미도시)과 그 위에 위치한 저저항 물질 상부막(미도시)으로 이루어진 다층막 구조를 가질 수 있다. 다층막 구조의 예로는 앞서 설명한 크롬 하부막과 알루미늄 상부막 또는 알루미늄 하부막과 몰리브덴 상부막의 이중막 외에도 몰리브덴막-알루미늄막-몰리브덴막의 삼중막을 들 수 있다.The data line 62, the source electrode 65, and the drain electrode 66 are preferably formed of a refractory metal such as chromium, molybdenum-based metal, tantalum, and titanium, And may have a multi-layer structure consisting of a lower film (not shown) such as a refractory metal and a low resistance material upper film (not shown) located thereon. Examples of the multilayer structure include a triple layer of a molybdenum film-aluminum film-molybdenum film in addition to the chromium lower film and the aluminum upper film or the aluminum lower film and the molybdenum upper film.

소스 전극(65)은 반도체층(44)과 적어도 일부분이 중첩되고, 드레인 전극(66)은 게이트 전극(26)을 중심으로 소스 전극(65)과 대향하며 반도체층(44)과 적어도 일부분이 중첩된다. 여기서, 저항성 접촉층(55, 56)은 그 하부의 반도체층(44)과, 그 상부의 소스 전극(65) 및 드레인 전극(66) 사이에 존재하며 접촉 저항을 낮추어 주는 역할을 한다.The source electrode 65 overlaps at least a portion of the semiconductor layer 44 and the drain electrode 66 faces the source electrode 65 about the gate electrode 26 and overlaps with the semiconductor layer 44 at least partially do. The resistive contact layers 55 and 56 are present between the semiconductor layer 44 under the resistive contact layers 55 and 56 and the source electrode 65 and the drain electrode 66 above the semiconductor layer 44 and serve to lower the contact resistance.

드레인 전극 확장부(67)는 화소 전극(22)과 오버랩되도록 형성되어, 화소 전극(27)과 게이트 절연막(30)을 사이에 두고 유지 용량이 형성된다. The drain electrode extension 67 is formed to overlap with the pixel electrode 22 and a storage capacitor is formed with the pixel electrode 27 and the gate insulating film 30 interposed therebetween.

데이터 배선(62, 65, 66, 67, 68) 및 이들이 가리지 않는 반도체층(44) 상부에는 보호막(70)이 형성되어 있다. 보호막(70)은 예를 들어 평탄화 특성이 우수하며 감광성(photosensitivity)을 가지는 유기 물질, 플라즈마 화학기상증착(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition; PECVD)으로 형성되는 a-Si:C:O, a-Si:O:F 등의 저유전율 절연 물질, 또는 무기 물질인 질화 규소(SiNx) 등으로 형성될 수 있다. 또한, 보호막(70)을 유기 물질로 형성하는 경우에는 소스 전극(65)과 드레인 전극(66) 사이의 반도체층(44)이 드러난 부분에 보호막(70)의 유기 물질이 접촉하는 것을 방지하기 위하여, 유기막의 하부에 질화 규소(SiNx) 또는 산화 규소(SiO2)로 이루어진 절연막(미도시)이 추가로 형성될 수도 있다.A protective film 70 is formed on the data lines 62, 65, 66, 67, and 68 and the semiconductor layer 44 not covered with these. The protective layer 70 may be formed of, for example, an a-Si: C: O, a-Si: Al, or a-Si: C formed by plasma chemical vapor deposition (PECVD) O: F, or silicon nitride (SiNx), which is an inorganic material. In order to prevent the organic material of the protective layer 70 from contacting the exposed portion of the semiconductor layer 44 between the source electrode 65 and the drain electrode 66 when the protective layer 70 is formed of an organic material, It may be formed by adding an insulating film (not shown) made of silicon nitride (SiNx) or silicon oxide (SiO 2) on the lower organic layer.

보호막(70)에는 드레인 전극 확장부(67) 및 데이터선 끝단(68)을 각각 드러내는 콘택홀(77, 78)이 형성되어 있으며, 보호막(70)과 게이트 절연막(30)에는 게이트선 끝단(24)을 드러내는 콘택홀(74)이 형성되어 있다. 보호막(70) 위에는 콘택홀(77)을 통하여 드레인 전극(66)과 전기적으로 연결되며 화소에 위치하는 화소 전극(82)이 형성되어 있다. 데이터 전압이 인가된 화소 전극(82)은 상부 표시판의 공통 전극과 함께 전기장을 생성함으로써 화소 전극(82)과 공통 전극 사이의 액정층의 액정 분자들의 배열을 결정한다.Contact holes 77 and 78 exposing the drain electrode extension 67 and the data line end 68 are formed in the passivation layer 70. Gate lines 32 and 24 are formed in the passivation layer 70 and the gate insulating layer 30, The contact hole 74 is exposed. A pixel electrode 82 electrically connected to the drain electrode 66 through the contact hole 77 and located in the pixel is formed on the passivation layer 70. The pixel electrode 82 to which the data voltage is applied generates an electric field together with the common electrode of the upper panel to determine the arrangement of the liquid crystal molecules in the liquid crystal layer between the pixel electrode 82 and the common electrode.

또한, 보호막(70) 위에는 콘택홀(74, 78)을 통하여 각각 게이트 끝단(24) 및 데이터 끝단(68)과 연결되어 있는 보조 게이트 끝단(84) 및 보조 데이터 끝단(88)이 형성되어 있다. 화소 전극(82)과 보조 게이트 및 데이터 끝단(86, 88)은 ITO로 이루어져 있다.An auxiliary gate end 84 and an auxiliary data end 88 connected to the gate end 24 and the data end 68 are formed on the protective film 70 through the contact holes 74 and 78, respectively. The pixel electrode 82, the assist gate, and the data ends 86 and 88 are made of ITO.

도 9는 도 2의 블록도에 적용되는 본 발명의 제2 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 나타내는 배치도이고, 도 10은 도 9의 Ⅱa'-Ⅱa" 및 Ⅱb'-Ⅱb" 선을 따라 절단한 단면도이다.FIG. 9 is a layout view showing a thin film transistor array substrate according to a second embodiment of the present invention applied to the block diagram of FIG. 2, and FIG. 10 is a sectional view taken along a line IIa'-IIa "and IIb'- Fig.

본 발명의 제2 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판은 유지 커패시터(Cst1)를 형성하기 위해 별도의 유지 전극선(29)을 포함하는 것을 제외하고는 본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판(도 1)과 동일하므로, 유지 캐패시터(Cst1)를 제외한 나머지 부분에 대해서는 설명의 편의상 생략하기로 한다.The thin film transistor array substrate according to the second embodiment of the present invention includes the thin film transistor array substrate according to the first embodiment of the present invention except that it includes a separate storage electrode line 29 for forming the storage capacitor Cst1. (FIG. 1), the remaining portions except for the holding capacitor Cst1 will be omitted for convenience of explanation.

도 9 및 도 10을 참조하면, 유지 커패시터(Cst1)는 박막 트랜지스터 어레이 기판(10)에 구비된 별도의 유지 전극선(29)과 화소 전극(82)이 중첩되어 이루어지며 이 별개의 유지 전극선(29)에는 공통 전압(Vcom) 등의 정해진 전압이 인가되는 독립 배선 방식을 사용한다.9 and 10, the storage capacitor Cst1 is formed by overlapping a separate storage electrode line 29 and a pixel electrode 82 provided on the thin film transistor array substrate 10, and the separate storage electrode lines 29 ), A separate wiring method in which a predetermined voltage such as the common voltage Vcom is applied is used.

플로팅 전극(27)은 도 10에서와 같이 게이트배선(22, 24, 26, 29)과 동일층 상에 형성되고, 전계가 인가되지 않는 플로팅 상태를 가지며, 데이터선(62)과 적어도 일부분이 오버랩되도록 평행하게 형성되어 있다. 그리고, 도 9의 "B"에서와 같이 플로팅 전극(27)은 데이터선(62) 및 화소 전극(82)과 적어도 일부분이 오버랩되도록 형성되어 있어 제1 내지 제3 오버랩 캐패시터(Cid, Cif, Cdf)를 형성한다. 도 5에서와 같이, 제1 오버랩 캐패시터(Cid)는 화소 전극(82)과 데이터선(62) 사이에 형성되고, 제2 오버랩 캐패시터(Cif) 화소 전극(82)과 플로팅 전극(27) 사이에 형성되고, 제3 오버랩 캐패시터(Cdf)는 데이터선(62)과 플로팅 전극(27) 사이에 각각 형성된다. 여기에서, 캐피시터의 용량은 전극의 면적과 전극 사이의 거리에 따라 변하게 되므로, 플로팅 전극(27)의 면적을 크게 형성함으로써 데이터선(62)과 플로팅 전극(27) 사이에 형성되는 제3 오버랩 캐패시터(Cdf)의 용량을 증가시킬 수 있다.The floating electrode 27 is formed on the same layer as the gate wiring 22, 24, 26 and 29 as shown in Fig. 10, has a floating state in which no electric field is applied, As shown in FIG. 9, the floating electrode 27 is formed so as to overlap at least a part of the data line 62 and the pixel electrode 82, and the first to third overlap capacitors Cid, Cif, Cdf ). 5, the first overlap capacitor Cid is formed between the pixel electrode 82 and the data line 62, and between the second overlap capacitor Cif pixel electrode 82 and the floating electrode 27 And a third overlap capacitor Cdf is formed between the data line 62 and the floating electrode 27, respectively. Since the capacitance of the capacitor varies depending on the area of the electrode and the distance between the electrodes, the area of the floating electrode 27 is increased to increase the capacitance of the third overlap capacitor 27 formed between the data line 62 and the floating electrode 27. [ (Cdf) can be increased.

이렇게 제3 오버랩 캐패시터(Cdf)의 용량을 증가시켜 전체 유지 캐패시터(Cst)의 용량을 증가시키게 되면, 박막 트랜지스터 구동시 하나의 화소는 한 프레임 동안 화소 전극에 데이터 전압이 인가되는 경우(블랙 상태), 유지 캐패시터(Cst)에 전하를 충전하고, 다음 프레임에서 화소 전극에 데이터 전압이 인가되지 않는 경우(화이트 상태), 유지 캐패시터(Cst)에 전하를 방전하는 속도가 빨라지게 된다. 이로 인해 현재 프레임과 다음 프레임 사이에 발생하는 커스프(cusp) 현상으로 인해 액정의 응답속도가 딜레이되는 것을 방지할 수 있어 액정의 응답속도를 개선할 수 있다. 따라서, 본 발명의 제1 실시예와 같이 동일한 효과를 얻을 수 있다.When the capacitance of the third overlap capacitor Cdf is increased to increase the capacitance of the entire storage capacitor Cst, when one pixel is driven in the thin film transistor, the data voltage is applied to the pixel electrode during one frame (black state) , The storage capacitor Cst is charged, and the rate of discharging the charge to the storage capacitor Cst is increased when the data voltage is not applied to the pixel electrode in the next frame (white state). As a result, the response speed of the liquid crystal can be prevented from being delayed due to the cusp phenomenon occurring between the current frame and the next frame, thereby improving the response speed of the liquid crystal. Therefore, the same effect as in the first embodiment of the present invention can be obtained.

그리고, 플로팅 전극(27)은 도 9에서와 같이 다각 패턴으로 형성될 수 있으며, 또한, 도 8a 내지 도 8h에서와 같이 데이터 배선과 오버랩되는 부분이 적어도 일부분 오픈되어 있는 다각 패턴으로 형성될 수 있다. 이때, 플로팅 전극(27)은 데이터선(62)을 사이에 두고 형성된 제1 및 제2 전극(27a, 27b)을 포함하며, 제1 및 제2 전극(27a, 27b)은 데이터선(62)과 적어도 일부분이 오버랩되는 연결 전극(27c)에 의해 연결되어 있다. The floating electrode 27 may be formed in a polygonal pattern as shown in FIG. 9, or may be formed in a polygonal pattern in which at least a portion overlapping the data line is opened as in FIGS. 8A to 8H . The floating electrode 27 includes first and second electrodes 27a and 27b formed with a data line 62 sandwiched therebetween and the first and second electrodes 27a and 27b are connected to the data line 62. [ And at least a part of which is overlapped with the connection electrode 27c.

또한, 도 6에서와 같이 플로팅 전극(27) 상부에는 데이터선(62)을 기준으로 일측에 플로팅 전극(27)과 적어도 일부분이 오버랩되는 화소 전극(82)이 형성될 수 있다. 그리고, 도 7에서와 같이 플로팅 전극(27) 상부에는 데이터선(62)을 기준으로 양측에 플로팅 전극(27)과 적어도 일부분이 오버랩되는 화소 전극(82)이 형성될 수 있다. As shown in FIG. 6, a pixel electrode 82 may be formed on the floating electrode 27 to overlap the floating electrode 27 on at least a portion of the data line 62. 7, a pixel electrode 82 may be formed on the floating electrode 27 so that at least a portion of the pixel electrode 82 overlaps the floating electrode 27 on both sides with respect to the data line 62. Referring to FIG.

도 11은 본 발명의 제3 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 나타내는 배치도이고, 도 12는 도 11의 Ⅱa'-Ⅱa" 및 Ⅱb'-Ⅱb" 선을 따라 절단한 단면도이고, 도 13 및 14는 본 발명의 제3 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판의 데이터 배선과 화소 전극의 배치를 나타내는 도면이고, 도 15는 본 발명의 제3 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판의 플로팅 전극의 다양한 변형을 나타내는 평면도이다.11 is a layout view showing a thin film transistor array substrate according to a third embodiment of the present invention, FIG. 12 is a cross-sectional view taken along line IIa'-IIa 'and IIb'-IIb' FIG. 15 is a view showing the arrangement of the data line and the pixel electrode of the thin film transistor array substrate according to the third embodiment of the present invention, and FIG. 15 is a view showing various variations of the floating electrode of the thin film transistor array substrate according to the third embodiment of the present invention Fig.

본 발명의 제3 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판은 유지 커패시터(Cst1)를 형성하기 위해 화소 전극이 절연체를 매개로 바로 위의 전단 게이트선(28)과 중첩되어 형성하는 것과 화소 전극(82)의 패턴 모양 및 데이터선(62)에 배치에 따라 플로팅 전극(27)의 형태가 변형된 것을 제외하고는 본 발명의 제1 실시예에 따른 박막 트랜지스터 기판(도 3)과 동일하므로, 나머지 부분에 대해서는 설명의 편의상 생략하기로 한다.The thin film transistor array substrate according to the third embodiment of the present invention includes a pixel electrode 82 formed by overlapping the pixel electrode 82 with the immediately preceding gate line 28 via an insulator to form the storage capacitor Cst1, (Fig. 3) according to the first embodiment of the present invention, except that the shape of the floating electrode 27 is changed in accordance with the pattern shape of the data line 62 and the arrangement of the floating electrode 27 in the data line 62, Will be omitted for convenience of explanation.

도 11 및 도 12를 참조하면, 유지 커패시터(Cst1)는 화소 전극(82)이 절연체를 매개로 바로 위의 전단 게이트선(28)과 중첩되어 이루어지는 전단 게이트 방식을 사용한다. 여기에서, 첫 번째 행의 화소는 전단의 게이트선이 없으므로 첫 번째 화소 행의 유지 용량용 게이트선(G0)을 추가하여 공통 전압(Vcom)을 인가함으로써 유지 캐패시터를 형성한다.11 and 12, the holding capacitor Cst1 uses a front gate method in which the pixel electrode 82 is superimposed on the front gate line 28 immediately above via an insulator. Here, since the pixels of the first row have no gate line at the previous stage, the storage capacitor gate line G0 of the first pixel row is added and the common voltage Vcom is applied to form the storage capacitor.

화소 전극(82)은 데이터선(62)을 따라 나란하게 형성된 절개부(83)에 의해 구분된 제1 화소 전극(미도시)과 제2 화소 전극(미도시)을 포함한다. 여기서, 제1 화소 전극과 제2 화소 전극은 전기적으로 연결되어 있다. 이러한 절개부(83)의 위치에 돌출부가 형성될 수도 있으며, 절개부(83) 또는 돌출부를 도메인 분할 수단이라고 한다. 절개부(83)는 화소 영역을 대략 1:2로 세로로 분할하며, 게이트선(22)과 대략 45도 또는 -45도를 이룬다. 이때, 제1 화소 전극은 절개부(83)의 오른쪽 또는 왼쪽에 형성될 수 있으며, 바람직하게는 다수의 사다리꼴 형상으로 구성되어 있다. 여기에서, 절개부(83)의 폭은 9㎛에서 12㎛ 사이인 것이 바람직하다. 만약 도메인 분할 수단으로 절개부(83) 대신 돌기를 형성하는 경우에는 폭을 5㎛에서 10㎛ 사이로 하는 것이 바람직하다.The pixel electrode 82 includes a first pixel electrode (not shown) and a second pixel electrode (not shown) separated by a cutout portion 83 formed along the data line 62. Here, the first pixel electrode and the second pixel electrode are electrically connected. A protrusion may be formed at the position of the cutout 83, and the cutout 83 or the protrusion may be referred to as a domain splitting means. The cutout portion 83 vertically divides the pixel region into approximately 1: 2 and forms approximately 45 degrees or -45 degrees with the gate line 22. [ At this time, the first pixel electrode may be formed on the right or left of the cutout 83, and preferably has a plurality of trapezoidal shapes. Here, it is preferable that the width of the cutout portion 83 is between 9 탆 and 12 탆. If the protrusion is formed instead of the cutout portion 83 by the domain dividing means, the width is preferably set to be between 5 탆 and 10 탆.

데이터선(62)은 화소의 길이를 주기로 하여 반복적으로 굽은 부분과 세로로 뻗은 부분이 나타나도록 형성되어 있다. 이때, 데이터선(62)의 굽은 부분은 두 개의 직선 부분으로 이루어지며, 이들 두 개의 직선 부분 중 하나는 게이트선(22)에 대하여 45도를 이루고, 다른 한 부분은 게이트선(22)에 대하여 -45도를 이룬다. 데이터선(62)의 세로로 뻗은 부분에는 소스 전극(65)이 연결되어 있다.The data line 62 is formed so that the repeatedly bent portion and the vertically extending portion appear at intervals of the pixel length. At this time, the bent portion of the data line 62 is made up of two straight portions, one of which is at 45 degrees with respect to the gate line 22, and the other portion is connected to the gate line 22 -45 degrees. A source electrode 65 is connected to a vertically extending portion of the data line 62.

여기에서, 데이터선(62)의 굽은 부분과 세로로 뻗은 부분의 길이의 비는 1:1 내지 9:1 사이(즉, 데이터선(62) 중 굽은 부분이 차지하는 비율이 50%에서 90%사이)인 것이 바람직하다.Here, the ratio of the length of the bent portion of the data line 62 to the length of the vertically extending portion is in a range of 1: 1 to 9: 1 (i.e., the ratio of the bent portion of the data line 62 is 50% to 90% ).

따라서, 게이트선(22)과 데이터선(62)이 교차하여 이루는 화소는 꺽인 띠 모양으로 형성된다. 이와 같이, 데이터선(62)는 화소의 모양처럼 직선과 꺽인 띠 모양의 조합으로 이루어질 수 있으나 본 발명은 이에 한정되지 않으며 데이터선(62)은 단순히 직선 모양 또는 꺽인 띠 모양으로 형성될 수 있다.Therefore, the pixels formed by intersecting the gate line 22 and the data line 62 are formed in a bent band shape. In this manner, the data line 62 may be formed by a combination of a straight line and a bent band like a pixel, but the present invention is not limited thereto, and the data line 62 may be formed as a straight line or a bent band.

플로팅 전극(27)은 도 12에서와 같이 게이트배선(22, 24, 26, 28)과 동일층 상에 형성되고, 전계가 인가되지 않는 플로팅 상태를 가지며, 데이터선(62)과 적어도 일부분이 오버랩되도록 형성되어 있다. 그리고, 도 11의 "C"에서와 같이 플로팅 전극(27)은 데이터선(62) 및 화소 전극(82)과 적어도 일부분이 오버랩되도록 형성되어 있어 제1 내지 제3 오버랩 캐패시터(Cid, Cif, Cdf)를 형성한다. 도 5에서와 같이, 제1 오버랩 캐패시터(Cid)는 화소 전극(82)과 데이터선(62) 사이에 형성되고, 제2 오버랩 캐패시터(Cif) 화소 전극(82)과 플로팅 전극(27) 사이에 형성되고, 제3 오버랩 캐패시터(Cdf)는 데이터선(62)과 플로팅 전극(27) 사이에 각각 형성된다. 여기에서, 캐피시터의 용량은 전극의 면적과 전극 사이의 거리에 따라 변하게 되므로, 플로팅 전극(27)의 면적을 크게 형성함으로써 데이터선(62)과 플로팅 전극(27) 사이에 형성되는 제3 오버랩 캐패시터(Cdf)의 용량을 증가시킬 수 있다.The floating electrode 27 is formed on the same layer as the gate wirings 22, 24, 26 and 28 as in FIG. 12, has a floating state in which no electric field is applied, Respectively. 11, the floating electrode 27 is formed so as to overlap at least a part of the data line 62 and the pixel electrode 82, and the first to third overlap capacitors Cid, Cif, Cdf ). 5, the first overlap capacitor Cid is formed between the pixel electrode 82 and the data line 62, and between the second overlap capacitor Cif pixel electrode 82 and the floating electrode 27 And a third overlap capacitor Cdf is formed between the data line 62 and the floating electrode 27, respectively. Since the capacitance of the capacitor varies depending on the area of the electrode and the distance between the electrodes, the area of the floating electrode 27 is increased to increase the capacitance of the third overlap capacitor 27 formed between the data line 62 and the floating electrode 27. [ (Cdf) can be increased.

이렇게 제3 오버랩 캐패시터(Cdf)의 용량을 증가시켜 전체 유지 캐패시터(Cst)의 용량을 증가시키게 되면, 박막 트랜지스터 구동시 하나의 화소는 한 프레임 동안 화소 전극에 데이터 전압이 인가되는 경우(블랙 상태), 유지 캐패시터(Cst)에 전하를 충전하고, 다음 프레임에서 화소 전극에 데이터 전압이 인가되지 않는 경우(화이트 상태), 유지 캐패시터(Cst)에 전하를 방전하는 속도가 빨라지게 된다. 이로 인해 현재 프레임과 다음 프레임 사이에 발생하는 커스프(cusp) 현상으로 인해 액정의 응답속도가 딜레이되는 것을 방지할 수 있어 액정의 응답속도를 개선할 수 있다. 따라서, 본 발명의 제1 실시예와 같이 동일한 효과를 얻을 수 있다.When the capacitance of the third overlap capacitor Cdf is increased to increase the capacitance of the entire storage capacitor Cst, when one pixel is driven in the thin film transistor, the data voltage is applied to the pixel electrode during one frame (black state) , The storage capacitor Cst is charged, and the rate of discharging the charge to the storage capacitor Cst is increased when the data voltage is not applied to the pixel electrode in the next frame (white state). As a result, the response speed of the liquid crystal can be prevented from being delayed due to the cusp phenomenon occurring between the current frame and the next frame, thereby improving the response speed of the liquid crystal. Therefore, the same effect as in the first embodiment of the present invention can be obtained.

그리고, 플로팅 전극(27)은 도 11에서와 같이 데이터선(62)과 동일하게 직선과 꺽인 띠 모양을 갖는 다각 패턴으로 형성될 수 있으며, 또한, 도 15a 내지 도 15h에서와 같이 직선과 꺽인 띠 모양을 갖는 데이터 배선과 오버랩되는 부분이 적어도 일부분 오픈되어 있는 다각 패턴으로 형성될 수 있다. 이때, 플로팅 전극(27)은 데이터선(62)을 사이에 두고 형성된 제1 및 제2 전극(27a, 27b)을 포함하며, 제1 및 제2 전극(27a, 27b)은 데이터선(62)과 적어도 일부분이 오버랩되는 연결 전극(27c)에 의해 연결되어 있다. 11, the floating electrode 27 may be formed in a polygonal pattern having a straight line and a bent band shape in the same manner as the data line 62. Also, as shown in FIGS. 15A to 15H, A portion overlapping with a data line having a shape can be formed in a polygonal pattern that is at least partially open. The floating electrode 27 includes first and second electrodes 27a and 27b formed with a data line 62 sandwiched therebetween and the first and second electrodes 27a and 27b are connected to the data line 62. [ And at least a part of which is overlapped with the connection electrode 27c.

또한, 도 13에서와 같이 플로팅 전극(27) 상부에는 데이터선(62)을 기준으로 일측에 플로팅 전극(27)과 적어도 일부분이 오버랩되는 화소 전극(82)이 형성될 수 있다. 그리고, 도 14에서와 같이 플로팅 전극(27) 상부에는 데이터선(62)을 기준으로 양측에 플로팅 전극(27)과 적어도 일부분이 오버랩되는 화소 전극(82)이 형성될 수 있다. 13, a pixel electrode 82 may be formed on the floating electrode 27 to partially overlap the floating electrode 27 on one side of the data line 62. Referring to FIG. 14, a pixel electrode 82 may be formed on the floating electrode 27 so that at least a portion of the pixel electrode 82 overlaps with the floating electrode 27 on both sides of the data line 62. Referring to FIG.

도 16은 본 발명의 제4 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판을 나타내는 배치도이고, 도 17은 도 16의 Ⅱa'-Ⅱa" 및 Ⅱb'-Ⅱb" 선을 따라 절단한 단면도이다.FIG. 16 is a layout view showing a thin film transistor array substrate according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 17 is a sectional view taken along line IIa'-IIa 'and IIb'-IIb' of FIG.

본 발명의 제4 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판은 유지 커패시터(Cst1)를 형성하기 위해 별도의 유지 전극선(29)을 포함하는 것을 제외하고는 본 발명의 제3 실시예에 따른 박막 트랜지스터 어레이 기판(도 11)과 동일하므로, 유지 캐패시터(Cst1)를 제외한 나머지 부분에 대해서는 설명의 편의상 생략하기로 한다.The thin film transistor array substrate according to the fourth embodiment of the present invention includes the thin film transistor array substrate according to the third embodiment of the present invention, except that it includes a separate storage electrode line 29 for forming the storage capacitor Cst1. (FIG. 11), so that the remaining parts except for the holding capacitor Cst1 will be omitted for convenience of explanation.

도 16 및 도 17를 참조하면, 유지 커패시터(Cst1)는 박막 트랜지스터 어레이 기판(10)에 구비된 별도의 유지 전극선(29)과 화소 전극(82)이 중첩되어 이루어지며 이 별개의 유지 전극선(29)에는 공통 전압(Vcom) 등의 정해진 전압이 인가되는 독립 배선 방식을 사용한다.16 and 17, the storage capacitor Cst1 is formed by overlapping a separate storage electrode line 29 and a pixel electrode 82 provided on the thin film transistor array substrate 10, and the separate storage electrode lines 29 ), A separate wiring method in which a predetermined voltage such as the common voltage Vcom is applied is used.

플로팅 전극(27)은 도 17에서와 같이 게이트배선(22, 24, 26, 28)과 동일층 상에 형성되고, 전계가 인가되지 않는 플로팅 상태를 가지며, 데이터선(62)과 적어도 일부분이 오버랩되도록 형성되어 있다. 그리고, 도 16의 "D"에서와 같이 플로팅 전극(27)은 데이터선(62) 및 화소 전극(82)과 적어도 일부분이 오버랩되도록 형성되어 있어 제1 내지 제3 오버랩 캐패시터(Cid, Cif, Cdf)를 형성한다. 도 5에서와 같이, 제1 오버랩 캐패시터(Cid)는 화소 전극(82)과 데이터선(62) 사이에 형성되고, 제2 오버랩 캐패시터(Cif) 화소 전극(82)과 플로팅 전극(27) 사이에 형성되고, 제3 오버랩 캐패시터(Cdf)는 데이터선(62)과 플로팅 전극(27) 사이에 각각 형성된다. 여기에서, 캐피시터의 용량은 전극의 면적과 전극 사이의 거리에 따라 변하게 되므로, 플로팅 전극(27)의 면적을 크게 형성함으로써 데이터선(62)과 플로팅 전극(27) 사이에 형성되는 제3 오버랩 캐패시터(Cdf)의 용량을 증가시킬 수 있다.The floating electrode 27 is formed on the same layer as the gate wirings 22, 24, 26 and 28 as shown in Fig. 17, has a floating state in which no electric field is applied, Respectively. 16, the floating electrode 27 is formed so as to overlap at least a part of the data line 62 and the pixel electrode 82, and the first to third overlap capacitors Cid, Cif, Cdf ). 5, the first overlap capacitor Cid is formed between the pixel electrode 82 and the data line 62, and between the second overlap capacitor Cif pixel electrode 82 and the floating electrode 27 And a third overlap capacitor Cdf is formed between the data line 62 and the floating electrode 27, respectively. Since the capacitance of the capacitor varies depending on the area of the electrode and the distance between the electrodes, the area of the floating electrode 27 is increased to increase the capacitance of the third overlap capacitor 27 formed between the data line 62 and the floating electrode 27. [ (Cdf) can be increased.

이렇게 제3 오버랩 캐패시터(Cdf)의 용량을 증가시켜 전체 유지 캐패시터(Cst)의 용량을 증가시키게 되면, 박막 트랜지스터 구동시 하나의 화소는 한 프레임 동안 화소 전극에 데이터 전압이 인가되는 경우(블랙 상태), 유지 캐패시터(Cst)에 전하를 충전하고, 다음 프레임에서 화소 전극에 데이터 전압이 인가되지 않는 경우(화이트 상태), 유지 캐패시터(Cst)에 전하를 방전하는 속도가 빨라지게 된다. 이로 인해 현재 프레임과 다음 프레임 사이에 발생하는 커스프(cusp) 현상으로 인해 액정의 응답속도가 딜레이되는 것을 방지할 수 있어 액정의 응답속도를 개선할 수 있다. 따라서, 본 발명의 제1 실시예와 같이 동일한 효과를 얻을 수 있다.When the capacitance of the third overlap capacitor Cdf is increased to increase the capacitance of the entire storage capacitor Cst, when one pixel is driven in the thin film transistor, the data voltage is applied to the pixel electrode during one frame (black state) , The storage capacitor Cst is charged, and the rate of discharging the charge to the storage capacitor Cst is increased when the data voltage is not applied to the pixel electrode in the next frame (white state). As a result, the response speed of the liquid crystal can be prevented from being delayed due to the cusp phenomenon occurring between the current frame and the next frame, thereby improving the response speed of the liquid crystal. Therefore, the same effect as in the first embodiment of the present invention can be obtained.

그리고, 플로팅 전극(27)은 도 16에서와 같이 다각 패턴으로 형성될 수 있으며, 또한, 도 15a 내지 도 15h에서와 같이 데이터 배선과 오버랩되는 부분이 적어도 일부분 오픈되어 있는 다각 패턴으로 형성될 수 있다. 이때, 플로팅 전극(27)은 데이터선(62)을 사이에 두고 형성된 제1 및 제2 전극(27a, 27b)을 포함하며, 제1 및 제2 전극(27a, 27b)은 데이터선(62)과 적어도 일부분이 오버랩되는 연결 전극(27c)에 의해 연결되어 있다. The floating electrode 27 may be formed in a polygonal pattern as shown in FIG. 16, or may be formed in a polygonal pattern in which a portion overlapping the data line is at least partially open as in FIGS. 15A to 15H . The floating electrode 27 includes first and second electrodes 27a and 27b formed with a data line 62 sandwiched therebetween and the first and second electrodes 27a and 27b are connected to the data line 62. [ And at least a part of which is overlapped with the connection electrode 27c.

또한, 도 13에서와 같이 플로팅 전극(27) 상부에는 데이터선(62)을 기준으로 일측에 플로팅 전극(27)과 적어도 일부분이 오버랩되는 화소 전극(82)이 형성될 수 있다. 그리고, 도 14에서와 같이 플로팅 전극(27) 상부에는 데이터선(62)을 기준으로 양측에 플로팅 전극(27)과 적어도 일부분이 오버랩되는 화소 전극(82)이 형성될 수 있다. 13, a pixel electrode 82 may be formed on the floating electrode 27 to partially overlap the floating electrode 27 on one side of the data line 62. Referring to FIG. 14, a pixel electrode 82 may be formed on the floating electrode 27 so that at least a portion of the pixel electrode 82 overlaps with the floating electrode 27 on both sides of the data line 62. Referring to FIG.

또한, 본 발명에서는 노광기의 비선형성에 따른 국부적인 틀어짐에 의해 발생하는 세로줄 개선도 가능하다. 즉, 화소 전극 형성시 노광기의 비선형에 따른 국부적인 틀어짐에 의해 화소 전극이 소정 간격 이동되어 패터닝된 경우 데이터선과 화소 전극 사이에 형성되는 오버랩 캐패시터의 용량이 증가되어 세로줄 개선도 가능하다.In addition, in the present invention, it is also possible to improve vertical lines caused by local deformation due to non-linearity of the exposure apparatus. That is, when the pixel electrode is moved and patterned by a predetermined distance due to a local deviation due to the nonlinearity of the aligner in forming the pixel electrode, the capacity of the overlap capacitor formed between the data line and the pixel electrode is increased to improve the vertical line.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해되어야만 한다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, You will understand. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive.

10: 절연 기판 22: 게이트선
24: 게이트선 끝단 25: 유지 전극
26: 게이트 전극 27: 플로팅 전극
28: 전단의 게이트선 29: 유지 전극선
30: 게이트 절연막 40: 반도체층
50: 저항 접촉층 62: 데이터선
65: 소스 전극 66: 드레인 전극
68: 데이터선 끝단 74, 77, 78: 접촉 구멍
82: 화소 전극 83: 절개부
86: 보조 게이트선 끝단 88: 보조 데이터선 끝단
10: insulating substrate 22: gate line
24: gate line end 25: sustain electrode
26: gate electrode 27: floating electrode
28: gate line of the front stage 29: sustain electrode line
30: Gate insulating film 40: Semiconductor layer
50: resistance contact layer 62: data line
65: source electrode 66: drain electrode
68: data line end 74, 77, 78: contact hole
82: pixel electrode 83:
86: Auxiliary gate line end 88: Auxiliary data line end

Claims (21)

절연 기판상에 서로 절연되며 교차되어 화소 영역을 정의하는 게이트 배선과 데이터 배선;
적어도 두 개의 화소 전극들;
게이트 전극, 소스 전극, 소스 전극 및 드레인 전극을 각각 포함하는 박막 트랜지스터로서, 상기 게이트 전극은 상기 게이트 배선에 연결되고, 상기 소스 전극은 상기 데이터 전극에 연결되고, 상기 드레인 전극은 상기 화소 전극들 중 하나에 연결되는, 적어도 하나의 박막 트랜지스터;
상기 드레인 전극으로부터 연장되어 상기 화소 전극들 중 하나와 적어도 일부가 중첩되는 드레인 전극 확장부;
상기 데이터 배선에 적어도 일부가 중첩되며 평행하게 배향되는 용량성(capacitive) 전극으로서, 다른 일부가 상기 적어도 두 개의 화소 전극들과 중첩되고, 상기 데이터 배선에 대향하는 개구 또는 슬릿이 없도록 형성되는 용량성 전극; 및
적어도 일부가 상기 게이트 배선과 평행하게 배치되는 유지 전극선을 포함하되,
상기 용량성 전극 및 유지 전극선은 동일층 상에 배치되고,
상기 적어도 두 개의 화소 전극들 중 하나는 상기 데이터 배선의 제1 측면에 인접하게 배치되고 상기 두 개의 화소 전극들 중 다른 하나는 상기 데이터 배선의 상기 제1 측면의 반대 측면인 상기 데이터 배선의 제2 측면에 인접하게 배치되며,
상기 유지 전극선은 상기 드레인 전극 확장부에 완전히 중첩되는 박막 트랜지스터 어레이 기판.
A gate wiring and a data wiring which are insulated from each other and intersected on an insulating substrate to define a pixel region;
At least two pixel electrodes;
A thin film transistor comprising a gate electrode, a source electrode, a source electrode, and a drain electrode, wherein the gate electrode is connected to the gate wiring, the source electrode is connected to the data electrode, At least one thin film transistor connected to one;
A drain electrode extension part extending from the drain electrode and overlapping at least a part of one of the pixel electrodes;
A capacitive electrode which is at least partially overlapped with the data line and is oriented parallel to the data line, a capacitive electrode overlapping with the at least two pixel electrodes and having no opening or slit opposed to the data line, electrode; And
At least a part of which is arranged in parallel with the gate wiring,
The capacitive electrode and the sustain electrode line are arranged on the same layer,
One of the at least two pixel electrodes is disposed adjacent to a first side of the data line and the other of the two pixel electrodes is connected to a second side of the data line that is the opposite side of the first side of the data line And is disposed adjacent to the side surface,
Wherein the sustain electrode line is completely overlapped with the drain electrode extension portion.
제1 항에 있어서, 상기 게이트 전극 및 상기 유지 전극선은 동일층 상에 배치되는 박막 트랜지스터 어레이 기판.The thin film transistor array substrate according to claim 1, wherein the gate electrode and the sustain electrode line are disposed on the same layer. 제2 항에 있어서,
상기 소스 전극, 상기 드레인 전극 및 상기 드레인 전극 확장부는 동일층 상에 배치되는 박막 트랜지스터 어레이 기판.
3. The method of claim 2,
Wherein the source electrode, the drain electrode, and the drain electrode extension are disposed on the same layer.
제3 항에 있어서, 상기 유지 전극선 및 상기 드레인 전극 확장부 사이에 배치되는 반도체 층을 더 포함하는 박막 트랜지스터 어레이 기판.The thin film transistor array substrate according to claim 3, further comprising a semiconductor layer disposed between the sustain electrode line and the drain electrode extension portion. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1 항에 있어서, 상기 드레인 전극 확장부 상에 콘택홀이 형성되는 박막 트랜지스터 어레이 기판.The thin film transistor array substrate according to claim 1, wherein a contact hole is formed on the drain electrode extension portion. 제9 항에 있어서, 상기 드레인 전극 확장부의 크기는 상기 콘택홀의 크기 보다 큰 박막 트랜지스터 어레이 기판.The thin film transistor array substrate according to claim 9, wherein a size of the drain electrode extension is larger than a size of the contact hole. 제1 항에 있어서, 상기 드레인 전극 확장부는 사각형의 형상을 가지는 박막 트랜지스터 어레이 기판.The thin film transistor array substrate according to claim 1, wherein the drain electrode extension portion has a rectangular shape. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1 항에 있어서, 상기 유지 전극선 상에 형성되는 콘택홀을 더 포함하는 박막 트랜지스터 어레이 기판.The thin film transistor array substrate according to claim 1, further comprising a contact hole formed on the sustain electrode line. 제17 항에 있어서,
상기 콘택홀은 상기 드레인 전극 확장부 상에도 형성되는 박막 트랜지스터 어레이 기판.
18. The method of claim 17,
And the contact hole is also formed on the drain electrode extension portion.
제18 항에 있어서, 상기 드레인 전극 확장부의 크기는 상기 콘택홀의 크기 보다 큰 박막 트랜지스터 어레이 기판.The thin film transistor array substrate of claim 18, wherein the drain electrode extension is larger than the contact hole. 제1 항에 있어서, 상기 용량성 전극과 상기 적어도 두 개의 화소 전극 중 하나가 중첩되는 부분의 폭과 상기 용량성 전극과 상기 적어도 두 개의 화소 전극 중 다른 하나가 중첩되는 부분의 폭은 동일한 박막 트랜지스터 어레이 기판.
2. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein a width of a portion where the capacitive electrode overlaps with one of the at least two pixel electrodes, and a width of a portion where the capacitive electrode and the other of the at least two pixel electrodes overlap, Array substrate.
제1 항에 있어서, 상기 데이터 배선과 상기 용량성 전극 사이에 배치되고 상기 데이터 배선의 너비보다 큰 너비를 갖는 저항성 접촉층을 더 포함하는 박막 트랜지스터 어레이 기판.
The thin film transistor array substrate according to claim 1, further comprising a resistive contact layer disposed between the data line and the capacitive electrode and having a width larger than the width of the data line.
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KR20050014059A (en) * 2003-07-29 2005-02-07 삼성전자주식회사 Thin film transistor panel and method for repairing liquid crystal display including the panel
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Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100245973B1 (en) * 1995-07-25 2000-03-02 가나이 쓰도무 Liquid crystal display device and its manufacturing method
KR20050014059A (en) * 2003-07-29 2005-02-07 삼성전자주식회사 Thin film transistor panel and method for repairing liquid crystal display including the panel
KR20060062573A (en) * 2004-12-03 2006-06-12 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Thin film transistor array substrate and manufacturing method of the same

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