JP2010072016A - Microscope device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a microscope device that easily makes a scan with illumination rays and is suitable for observation of a deep part of a living organism. <P>SOLUTION: A separation filter 9 includes only its part (area 91) configured to transmit laser light, so that only the part is irradiated with a laser light. The laser light only passes through the separation filter to impinge on an objective 10. The objective 10 converges the laser light, and an optical scanning unit 5 scans a focal plane 20 with a convergence point thereof. A fluorescence indicator of a sample is excited with the light to emit fluorescent light. The fluorescent light is captured by the objective 10 and travels toward separation filter 9, but only the part (area 92) of the separation filter 9 makes the fluorescent light pass through. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、照明光を対物レンズを介して照射することで前記照明光の焦点を前記試料に結ばせるとともに、前記焦点からの戻り光を前記対物レンズを介して取得して検出器で検出する顕微鏡装置に関する。   The present invention irradiates illumination light through an objective lens to focus the illumination light on the sample, and obtains return light from the focus through the objective lens and detects it with a detector. The present invention relates to a microscope apparatus.

顕微鏡観察において、生体の深部観察を行う際には、焦点面以外からの戻り光の影響により、画像のSNは劣化する。この現象はたとえ共焦点顕微鏡を用いたとしても充分取り除くことはできていない。   In microscopic observation, when performing deep observation of a living body, the SN of an image deteriorates due to the influence of return light from other than the focal plane. This phenomenon cannot be removed sufficiently even if a confocal microscope is used.

この、問題点を解消するための技術(USP5,973,828、USP5,969,854、USP6,423,956、DE4326473)が提案されている。   Techniques (USP 5,973,828, USP 5,969,854, USP 6,423,956, DE4326473) for solving this problem have been proposed.

これらの技術では、二つの対物レンズを用いて、それぞれの焦点領域が交差するように配置することと共焦点顕微鏡技術を組み合わせるによって、それらの交差領域のみの情報が得られることにより、水平分解能は少々悪くなるが、主として深度方向の分解能を向上させるものである(USP5,973,828の図2参照)。   In these technologies, the horizontal resolution is reduced by using two objective lenses and combining the focal regions with each other and combining the confocal microscope technology to obtain information on only those intersecting regions. Although it is a little worse, it mainly improves the resolution in the depth direction (see FIG. 2 of USP 5,973,828).

また、これらの構成を比較的低NAのレンズで構成した場合には次の効果があることが非特許文献2に記載されている。
(1)光軸方向の分解能が向上する。
(2)NAが小さいため、生体深部観察においても収差が発生しにくい。
(3)小さい径のものが製作しやすい。
(4)WDを長くできて深部観察に適する。
(5)二つの光路が別々のため、深部観察を行っても観察面以外からの戻り光などのノイズ光の影響を受けにくい。
Further, Non-Patent Document 2 describes that the following effects are obtained when these configurations are configured with lenses having a relatively low NA.
(1) The resolution in the optical axis direction is improved.
(2) Since NA is small, it is difficult for aberrations to occur even in deep body observation.
(3) Small diameter is easy to manufacture.
(4) WD can be lengthened and is suitable for deep observation.
(5) Since the two optical paths are separate, even if deep observation is performed, it is difficult to be affected by noise light such as return light from other than the observation surface.

また、USP5,973,828の図7には、二つの対物レンズの位置関係を保ったまま焦点位置を走査する走査機構が開示されている。また、非特許文献1、非特許文献2には、対象物をステージ等で移動させて走査する方法が開示されている。   FIG. 7 of USP 5,973,828 discloses a scanning mechanism that scans the focal position while maintaining the positional relationship between the two objective lenses. Non-Patent Document 1 and Non-Patent Document 2 disclose a method of scanning an object by moving it on a stage or the like.

米国特許第5,973,828号明細書U.S. Pat.No. 5,973,828 米国特許第5,969,854号明細書U.S. Pat.No. 5,969,854 米国特許第6,423,956号明細書U.S. Patent No. 6,423,956 独国特許第4326473号明細書German patent No. 4364773 「Confocal microscope with large field and working distance」, Applied Optics, Vol.38, No.22, pp.4870`` Confocal microscope with large field and working distance '', Applied Optics, Vol.38, No.22, pp.4870 「Dual-axis confocal microscope for high-resolution in vivo imaging」,Optics Letters,Vol.28,No.6,pp414`` Dual-axis confocal microscope for high-resolution in vivo imaging '', Optics Letters, Vol.28, No.6, pp414

しかしながら、角度のついた二つの対物レンズを通る光の焦点の位置関係を保ったまま焦点位置を走査する機構は複雑な上に、走査に時間がかかることが考えられる。また、ステージ等を移動させて走査する方法を適用する場合も、実際には極めて長時間の走査時間がかかると考えられる。   However, it is conceivable that the mechanism for scanning the focal position while maintaining the positional relationship of the focal point of the light passing through the two angled objective lenses is complicated and it takes time to scan. In addition, when applying a method of scanning by moving a stage or the like, it is considered that a very long scanning time is actually required.

本発明の目的は、照明光を容易に走査でき、生体深部の観察に適した顕微鏡装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a microscope apparatus that can easily scan illumination light and is suitable for observation of a deep part of a living body.

本発明の顕微鏡装置は、照明光を対物レンズを介して照射することで前記照明光の焦点を前記試料に結ばせるとともに、前記焦点からの戻り光を前記対物レンズを介して取得して検出器で検出する顕微鏡装置において、前記対物レンズから前記焦点に至る前記照明光の光路と、前記戻り光のうち、前記検出器で検出される光の前記焦点から前記対物レンズに至る光路とが、光路全体に渡り分離されていることを特徴とする。
この顕微鏡装置によれば、対物レンズから焦点に至る照明光の光路と、戻り光のうち、検出器で検出される光の焦点から対物レンズに至る光路とが、光路全体に渡り分離されているので、照明光を容易に走査でき、生体深部の観察に適している。
The microscope apparatus of the present invention irradiates illumination light through an objective lens to focus the illumination light on the sample, and obtains return light from the focus through the objective lens to detect the detector. The optical path of the illumination light from the objective lens to the focal point, and the optical path from the focal point of the light detected by the detector to the objective lens among the return light, It is characterized by being separated throughout.
According to this microscope apparatus, the optical path of the illumination light from the objective lens to the focal point and the optical path from the focal point of the light detected by the detector to the objective lens among the return light are separated over the entire optical path. Therefore, the illumination light can be easily scanned and is suitable for observation of the deep part of the living body.

前記戻り光が蛍光であってもよい。   The return light may be fluorescence.

前記戻り光が反射、散乱光であってもよい。   The return light may be reflected or scattered light.

前記照明光の焦点を前記対物レンズの焦点面で走査するとともに、走査された各々の焦点からの戻り光を前記検出器で検出してもよい。   The focus of the illumination light may be scanned by the focal plane of the objective lens, and the return light from each scanned focus may be detected by the detector.

前記照明光の焦点は、前記照明光の光路中のミラーを駆動することにより走査されてもよい。   The focus of the illumination light may be scanned by driving a mirror in the optical path of the illumination light.

前記照明光の焦点は、前記照明光の光路中のマスクパターン部材を駆動することにより走査されてもよい。   The focus of the illumination light may be scanned by driving a mask pattern member in the optical path of the illumination light.

前記対物レンズから前記焦点に至る前記照明光が前記対物レンズの瞳位置において通過する領域と、前記戻り光のうち前記検出器で検出される光が前記対物レンズの瞳位置において通過する領域とが、分離されてもよい。   An area through which the illumination light from the objective lens to the focal point passes at the pupil position of the objective lens, and an area through which the light detected by the detector of the return light passes at the pupil position of the objective lens. , May be separated.

前記対物レンズの瞳位置において、前記瞳位置を横断する少なくとも1本以上の直線または曲線で分離される区分のそれぞれ別の区分に、前記照明光の通過する領域と前記戻り光の通過する領域が存在してもよい。   In the pupil position of the objective lens, a region through which the illumination light passes and a region through which the return light passes are in different sections separated by at least one straight line or curve crossing the pupil position. May be present.

前記対物レンズの瞳位置において、前記瞳位置を横断する少なくとも2本以上の互いに交差する直線または曲線で放射状に分離される区分のそれぞれ別の区分に、前記照明光の通過する領域と前記戻り光の通過する領域が存在してもよい。   In the pupil position of the objective lens, the region through which the illumination light passes and the return light are divided into different sections radially separated by at least two or more intersecting straight lines or curves crossing the pupil position. There may be a region through which

前記対物レンズの瞳位置において、前記瞳位置の内部に存在する少なくとも1本以上の閉じた直線または曲線でその内部と外部に分離される区分のそれぞれ別の区分に、前記照明光の通過する領域と前記戻り光の通過する領域が存在してもよい。   In the pupil position of the objective lens, the region through which the illumination light passes is divided into different sections separated into the interior and the exterior by at least one closed straight line or curve existing inside the pupil position. There may be a region through which the return light passes.

前記対物レンズの瞳位置において、前記瞳位置の内部に存在する少なくとも1つの円の内部と外部に分離される区分のそれぞれ別の区分に、前記照明光の通過する領域と前記戻り光の通過する領域が存在してもよい。   At the pupil position of the objective lens, the region through which the illumination light passes and the return light pass through different sections that are separated into the inside and the outside of at least one circle existing inside the pupil position. There may be regions.

前記戻り光の光路と、照明光の光路とを分離するための光路制限手段を設けてもよい。   You may provide the optical path limiting means for isolate | separating the optical path of the said return light, and the optical path of illumination light.

前記戻り光は蛍光であり、前記光路制限手段として、波長特性を有するフィルタもしくはミラーを用い、前記検出器で検出される蛍光の光路を制限してもよい。   The return light may be fluorescence, and a filter or mirror having wavelength characteristics may be used as the optical path limiting means to limit the optical path of the fluorescence detected by the detector.

前記光路制限手段として、波長特性を有するフィルタもしくはミラーを用い、前記対物レンズに入る照明光の光路を制限してもよい。   As the optical path limiting means, a filter or a mirror having wavelength characteristics may be used to limit the optical path of the illumination light entering the objective lens.

前記戻り光は反射、散乱光であり、前記光路制限手段として、偏光特性を有するフィルタもしくはミラーを用い、前記検出器で検出される戻り光の光路を制限してもよい。   The return light may be reflected or scattered light, and a filter or mirror having polarization characteristics may be used as the optical path limiting means to limit the optical path of the return light detected by the detector.

前記照明光の光路または前記戻り光の光路の一部が、前記光路制限手段としての遮光マスクによって制限されてもよい。   A part of the optical path of the illumination light or the optical path of the return light may be limited by a light shielding mask as the optical path limiting unit.

前記光路制限手段を前記対物レンズの瞳位置近傍に設けてもよい。   The optical path limiting means may be provided near the pupil position of the objective lens.

前記光路制限手段を前記対物レンズの瞳位置がリレーされた位置の近傍に設けてもよい。   The optical path limiting means may be provided in the vicinity of the position where the pupil position of the objective lens is relayed.

前記光路制限手段を前記照明光または前記戻り光が平行光をなす光路の部分に設けてもよい。   The optical path limiting means may be provided in a portion of the optical path where the illumination light or the return light forms parallel light.

前記照明光の光路と、前記戻り光の光路とを別々の光学部品により構成してもよい。   The optical path of the illumination light and the optical path of the return light may be configured by separate optical components.

前記照明光の焦点の集合がライン状であるとともに、前記検出器による検出される検出点の集合もまた、前記焦点の集合に一致したライン状であってもよい。   The set of focal points of the illumination light may be a line shape, and the set of detection points detected by the detector may also be a line shape that matches the set of focus points.

前記照明光が近赤外レーザ光であってもよい。   The illumination light may be near infrared laser light.

本発明の顕微鏡装置によれば、対物レンズから焦点に至る照明光の光路と、戻り光のうち、検出器で検出される光の焦点から対物レンズに至る光路とが、光路全体に渡り分離されているので、照明光を容易に走査でき、生体深部の観察に適している。   According to the microscope apparatus of the present invention, the optical path of the illumination light from the objective lens to the focal point and the optical path from the focal point of the light detected by the detector to the objective lens among the return light are separated over the entire optical path. Therefore, the illumination light can be easily scanned and is suitable for observation of the deep part of the living body.

以下、本発明による顕微鏡装置の実施形態について説明する。   Hereinafter, embodiments of a microscope apparatus according to the present invention will be described.

以下、図1〜図4を参照して、実施例1の顕微鏡装置について説明する。   Hereinafter, the microscope apparatus according to the first embodiment will be described with reference to FIGS.

図1は、実施例1の顕微鏡装置の構成を示すブロック図である。   FIG. 1 is a block diagram illustrating the configuration of the microscope apparatus according to the first embodiment.

図1に示すように、本実施例の顕微鏡装置1は、近赤外の波長のレーザ光を出力するレーザ光源2を備え、その前面には電動シャッタ3が配置されている。さらに、レーザ光の向きを変えるためのダイクロイックミラー4とレーザ光を走査するための走査光学ユニット5とを備えている。   As shown in FIG. 1, a microscope apparatus 1 according to the present embodiment includes a laser light source 2 that outputs laser light having a near-infrared wavelength, and an electric shutter 3 is disposed on the front surface thereof. Furthermore, a dichroic mirror 4 for changing the direction of the laser beam and a scanning optical unit 5 for scanning the laser beam are provided.

ダイクロイックミラー4はレーザ光の波長を反射し、レーザ光により励起された蛍光を透過させる特性を有する。走査光学ユニット5は、一本の軸の周りに回転可能な可変ミラー5aと、可変ミラー5aの軸にほぼ直交する軸の周りに回転可能な可変ミラー5bとを備える。   The dichroic mirror 4 has a characteristic of reflecting the wavelength of the laser beam and transmitting the fluorescence excited by the laser beam. The scanning optical unit 5 includes a variable mirror 5a that can rotate about one axis, and a variable mirror 5b that can rotate about an axis substantially orthogonal to the axis of the variable mirror 5a.

また、顕微鏡装置1は光を収束させる瞳投影レンズ6とレーザビームを偏向するミラー7及び結像レンズ8と対物レンズ10を備える。対物レンズ10の瞳位置の近傍には分離フィルタ9が設けられている。   Further, the microscope apparatus 1 includes a pupil projection lens 6 that converges light, a mirror 7 that deflects a laser beam, an imaging lens 8, and an objective lens 10. A separation filter 9 is provided in the vicinity of the pupil position of the objective lens 10.

図2は、分離フィルタ9の構造を示す図である。図2に示すように、分離フィルタ9はレーザ光のみを通過する領域91と、上記の蛍光のみを通過する領域92と、遮光領域93とによって構成されている。   FIG. 2 is a diagram showing the structure of the separation filter 9. As shown in FIG. 2, the separation filter 9 includes a region 91 that passes only laser light, a region 92 that passes only the above-described fluorescence, and a light shielding region 93.

また、顕微鏡装置1は試料12を載せるステージ11を有する。また、ダイクロイックミラー4の近傍には試料12から発生した蛍光を選択的に透過する蛍光フィルタ13と、蛍光ビームを収束させるレンズ14とピンホールが形成されたピンホール部材15と、ピンホール部材15のピンホールを通過した光を検出する検出器16とが設けられている。
さらに顕微鏡装置1はコントローラ17と表示モニタ18を有し、コントローラ17による制御に基づいて、電動シャッタ3の開閉、光学走査ユニット5によるレーザ光の走査、光検出器16からの信号の取得、表示モニタ18への情報出力が実行される。
The microscope apparatus 1 has a stage 11 on which a sample 12 is placed. Further, in the vicinity of the dichroic mirror 4, a fluorescent filter 13 that selectively transmits fluorescence generated from the sample 12, a lens 14 that converges a fluorescent beam, a pinhole member 15 in which a pinhole is formed, and a pinhole member 15 And a detector 16 for detecting light that has passed through the pinhole.
Furthermore, the microscope apparatus 1 has a controller 17 and a display monitor 18, and based on the control by the controller 17, the electric shutter 3 is opened and closed, the laser beam is scanned by the optical scanning unit 5, the signal is obtained from the photodetector 16 and displayed. Information output to the monitor 18 is executed.

次に、本実施例の顕微鏡装置の動作について説明する。   Next, the operation of the microscope apparatus of this embodiment will be described.

試料12には、レーザ光源2からの光によって励起される蛍光指示薬が導入された状態で、ステージ11上に配置される。   The sample 12 is placed on the stage 11 in a state in which a fluorescent indicator excited by light from the laser light source 2 is introduced.

レーザ光源2からのレーザ光は、電動シャッタ3が開いている時には電動シャッタ3を通過し、ダイクロイックミラー4によって光走査ユニット5へと導かれ、光走査ユニット5によって任意の方向に走査される。レーザ光はさらに瞳投影レンズ6、反射ミラー7、結像レンズ8を通過し、対物レンズ10の瞳位置近傍の分離フィルタ9に入射される。   The laser light from the laser light source 2 passes through the electric shutter 3 when the electric shutter 3 is open, is guided to the optical scanning unit 5 by the dichroic mirror 4, and is scanned in an arbitrary direction by the optical scanning unit 5. The laser light further passes through the pupil projection lens 6, the reflection mirror 7, and the imaging lens 8, and enters the separation filter 9 near the pupil position of the objective lens 10.

図3は、分離フィルタ9の機能を示す図である。   FIG. 3 is a diagram illustrating the function of the separation filter 9.

分離フィルタ9はその一部(領域91)のみをレーザ光が透過可能に構成されているので、レーザ光はこの部分に照射された光のみが通過して対物レンズ10に入る。対物レンズ10によってこのレーザ光は収束されるとともに、光走査ユニット5によってこの収束点は焦点面20上を走査される。このレーザ光によって試料の蛍光指示薬が励起されて、蛍光が発する。この蛍光は対物レンズ10によって捕らえられて、分離フィルタ9に向かうが、分離フィルタ9ではその一部(領域92)のみで蛍光を通過させる。   Since the separation filter 9 is configured such that only a part (region 91) of the separation filter 9 can transmit the laser light, only the light irradiated to this part of the separation light 9 passes through the objective lens 10. The laser beam is converged by the objective lens 10, and the convergence point is scanned on the focal plane 20 by the optical scanning unit 5. This laser light excites the fluorescent indicator of the sample, and emits fluorescence. This fluorescence is captured by the objective lens 10 and travels to the separation filter 9, but the separation filter 9 allows the fluorescence to pass through only a part (region 92).

図1に示すように、分離フィルタ9を通過した蛍光は、レーザ光とは逆向きに進み、結像レンズ8、反射ミラー9、瞳投影レンズ6、光走査ユニット5を介してダイクロイックミラー4へ導かれる。蛍光はダイクロイックミラー4を透過して、蛍光フィルタ13によって特定の波長成分が選択的に透過されて、レンズ14と、ピンホール15によって焦点面20からの蛍光のみが選択されて検出器15へ入る。   As shown in FIG. 1, the fluorescence that has passed through the separation filter 9 travels in the opposite direction to the laser light, and passes to the dichroic mirror 4 via the imaging lens 8, the reflection mirror 9, the pupil projection lens 6, and the optical scanning unit 5. Led. The fluorescence passes through the dichroic mirror 4, a specific wavelength component is selectively transmitted by the fluorescence filter 13, and only the fluorescence from the focal plane 20 is selected by the lens 14 and the pinhole 15 and enters the detector 15. .

光検出器16からの出力信号は、コントロールユニット17へ導かれ、走査光学ユニット5による走査制御に同期してデジタル信号に変換され、走査位置と対応させて画像データを作成し、表示モニタ18上に表示し、あるいは、作成されたデータを内部のメモリに記憶する。   The output signal from the light detector 16 is guided to the control unit 17 and converted into a digital signal in synchronization with the scanning control by the scanning optical unit 5 to create image data corresponding to the scanning position, and on the display monitor 18. Or the created data is stored in an internal memory.

図4は、対物レンズ10の収束点近傍を示す図である。図4に示すように、右側からのレーザ光により蛍光物質を励起して、左側から蛍光を検出しており、対物レンズ10の瞳を部分的にしか使用していないため、水平方向分解能はやや悪くなるが、図4のハッチング領域の蛍光が選択的に検出されるために、深さ方向分解能が優れている。   FIG. 4 is a view showing the vicinity of the convergence point of the objective lens 10. As shown in FIG. 4, the fluorescent substance is excited by the laser beam from the right side, and the fluorescence is detected from the left side. Since the pupil of the objective lens 10 is only partially used, the horizontal resolution is slightly higher. Although worse, the fluorescence in the hatched area in FIG. 4 is selectively detected, and therefore the depth resolution is excellent.

このとき、レーザ光の光軸と検出蛍光の光軸が概ね90度となるように構成するときに図4に示すハッチング領域が最も小さくなるので最も良好な分解能が得られる。また、レーザ光の光路と検出蛍光の光路が分離されているので、レーザ光により励起される図4のハッチング領域以外の蛍光が、容易には検出されなくなっており、深部観察時にSN良く画像が撮影できる。   At this time, when the optical axis of the laser beam and the optical axis of the detected fluorescence are set to approximately 90 degrees, the hatching area shown in FIG. 4 is the smallest, so that the best resolution can be obtained. Further, since the optical path of the laser beam and the optical path of the detection fluorescence are separated, the fluorescence other than the hatching region of FIG. 4 excited by the laser beam is not easily detected, and an image with good SN can be obtained during deep observation. Can shoot.

また、ハッチング領域のみの蛍光が戻ってくるので、ピンホール15を用いなくても共焦点効果は得られるが、ピンホール15を挿入することで一層SNが良くなる。   In addition, since the fluorescence only in the hatched region returns, the confocal effect can be obtained without using the pinhole 15, but the SN is further improved by inserting the pinhole 15.

ここで分離フィルタ9の設置位置は対物レンズ10の瞳位置の近傍が望ましいが、瞳位置が投影される光走査ユニット5内部かその近傍でも良く、また光走査ユニット5とダイクロイックミラー4の間の平行光路に挿入しても良い。分離フィルタは、対物レンズ10の瞳位置がリレーされた位置の近傍に設置されればよい。   Here, the installation position of the separation filter 9 is preferably in the vicinity of the pupil position of the objective lens 10, but may be in or near the optical scanning unit 5 on which the pupil position is projected, or between the optical scanning unit 5 and the dichroic mirror 4. You may insert in a parallel optical path. The separation filter may be installed in the vicinity of the position where the pupil position of the objective lens 10 is relayed.

また、分離フィルタのパターンはこれに限らず、透過する光を選択する各領域が放射状に、あるいは、同心円状に設けられてもよく、同様の効果が得られる他のパターンでも良い。   The pattern of the separation filter is not limited to this, and each region for selecting transmitted light may be provided radially or concentrically, or may be another pattern that can obtain the same effect.

このように、実施例1の顕微鏡装置によれば、レーザ光を投光する光学系と、検出する光学系を分離したので、光軸方向の分解能に優れている。また、投光系の光学系と検出系の光学系とを別々に構成したので、投光系の光学系の通る様々な場所からのノイズとなる蛍光が、検出系の光路に入り難い構成となっており、極めてSN比が良く、組織の深部観察に適している。   As described above, according to the microscope apparatus of the first embodiment, the optical system for projecting the laser beam and the optical system for detection are separated, and thus the resolution in the optical axis direction is excellent. In addition, since the optical system of the projection system and the optical system of the detection system are configured separately, the fluorescence that becomes noise from various places through which the optical system of the projection system passes is difficult to enter the optical path of the detection system. It has a very good S / N ratio and is suitable for deep tissue observation.

以下、図5を参照して、実施例2の顕微鏡装置について説明する。   Hereinafter, the microscope apparatus according to the second embodiment will be described with reference to FIG.

図5は、実施例2の顕微鏡装置の構成を示すブロック図である。実施例1と同一構成要素には同一符合を付し、説明を省略する。   FIG. 5 is a block diagram illustrating the configuration of the microscope apparatus according to the second embodiment. The same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

図2に示すように、実施例2の顕微鏡装置1Aでは、レーザ光源2Aからのレーザ光の光束を絞り、光軸中心を外した光路を通している。また、戻り光(蛍光)を選択する遮光マスク21が設けられている。   As shown in FIG. 2, in the microscope apparatus 1A according to the second embodiment, the light beam of the laser light from the laser light source 2A is narrowed and passes through the optical path with the optical axis center removed. In addition, a light shielding mask 21 for selecting return light (fluorescence) is provided.

図5において、太線はレーザ光の光束を示している。レーザ光の光路は太線で示す光路を通り、図5において対物レンズ10の右側から光が入る。試料11からの蛍光は図の実線で示すように瞳径を満たす太い光束で戻り、遮光マスク21でその一部のみが取り出され、ピンホール15を通った光が光検出器16で検出される。   In FIG. 5, the thick line indicates the luminous flux of the laser beam. The optical path of the laser light passes through the optical path indicated by a thick line, and light enters from the right side of the objective lens 10 in FIG. The fluorescence from the sample 11 returns with a thick light beam that satisfies the pupil diameter as shown by the solid line in the figure, and only a part of the light is taken out by the light shielding mask 21, and the light that has passed through the pinhole 15 is detected by the photodetector 16. .

遮光マスク21を通る光は対物レンズ10の左側を通る光束なので、遮光マスク21は、実施例1の分離フィルタ9と実質的に同様に作用する。また、遮光マスクはピンホール部材15の近傍に設けても良い。   Since the light passing through the light shielding mask 21 is a light beam passing through the left side of the objective lens 10, the light shielding mask 21 acts substantially the same as the separation filter 9 of the first embodiment. Further, the light shielding mask may be provided in the vicinity of the pinhole member 15.

本実施例の顕微鏡装置では、実施例1の効果に加えて、レーザ光の大半を使用できるので効率が良いという利点がある。   In addition to the effects of the first embodiment, the microscope apparatus according to the present embodiment has an advantage that efficiency can be improved because most of the laser light can be used.

以下、図6〜図8を参照して、実施例3の顕微鏡装置について説明する。実施例1と同一構成要素についての説明は省略する。実施例3の顕微鏡装置では、実施例1の顕微鏡装置に対し、分離フィルタの構造が異なっている。   Hereinafter, the microscope apparatus of Example 3 will be described with reference to FIGS. A description of the same components as those in the first embodiment is omitted. In the microscope apparatus of the third embodiment, the structure of the separation filter is different from the microscope apparatus of the first embodiment.

図6は、本実施例の顕微鏡装置で使用される分離フィルタ9Aの構造を示す図である。   FIG. 6 is a diagram showing the structure of the separation filter 9A used in the microscope apparatus of this embodiment.

図6に示すように、分離フィルタ9Aはレーザ光のみを通過する領域91A、遮光領域93Aおよび蛍光のみを通過する領域92Aが順次、内側から外側に向けて同心円状に設けられている。   As shown in FIG. 6, in the separation filter 9A, a region 91A that passes only laser light, a light shielding region 93A, and a region 92A that passes only fluorescence are sequentially provided concentrically from the inside toward the outside.

図7は、分離フィルタ9Aの機能を示す図である。   FIG. 7 is a diagram illustrating the function of the separation filter 9A.

図7に示すように、本実施例の顕微鏡装置では、レーザ光源からのレーザ光の光束を絞り、分離フィルタ9Aの領域91Aに対応する光束としている。領域91Aを通ったレーザ光は対物レンズ10で収束される。収束点からの蛍光は領域92Aを通ったものが同じ光路を通って戻っていく。   As shown in FIG. 7, in the microscope apparatus of the present embodiment, the light beam of the laser light from the laser light source is narrowed to be a light beam corresponding to the region 91A of the separation filter 9A. The laser light that has passed through the region 91A is converged by the objective lens 10. The fluorescence from the convergence point passes through the region 92A and returns through the same optical path.

図8は、対物レンズ10の収束点近傍を示す図である。図8に示すように、本実施例では、光軸に近い領域からのレーザ光により蛍光物質を励起して、外側から蛍光を検出している。これにより、図8のハッチング領域の蛍光が選択的に検出されるために、実施例1と同様、深さ方向分解能が優れている。   FIG. 8 is a view showing the vicinity of the convergence point of the objective lens 10. As shown in FIG. 8, in this embodiment, the fluorescent material is excited by laser light from a region close to the optical axis, and fluorescence is detected from the outside. Thereby, since the fluorescence in the hatched area in FIG. 8 is selectively detected, the resolution in the depth direction is excellent as in the first embodiment.

ここで分離フィルタ9Aの設置位置は対物レンズ10の瞳位置の近傍が望ましいが、瞳位置が投影される光走査ユニット5内部かその近傍でも良く、また光走査ユニット5とダイクロイックミラー4の間の平行光路に挿入しても良い。分離フィルタは、対物レンズ10の瞳位置がリレーされた位置の近傍に設置されればよい。   Here, the installation position of the separation filter 9A is preferably in the vicinity of the pupil position of the objective lens 10, but may be in or near the optical scanning unit 5 on which the pupil position is projected, and between the optical scanning unit 5 and the dichroic mirror 4. You may insert in a parallel optical path. The separation filter may be installed in the vicinity of the position where the pupil position of the objective lens 10 is relayed.

本実施例の顕微鏡装置では、実施例1の効果に加えて、レーザ光の大半を使用できるので効率が良いという利点がある。   In addition to the effects of the first embodiment, the microscope apparatus according to the present embodiment has an advantage that efficiency can be improved because most of the laser light can be used.

以下、図9を参照して、実施例4の顕微鏡装置について説明する。実施例4の顕微鏡装置では、実施例1と異なる走査方式を採用している。   Hereinafter, the microscope apparatus according to the fourth embodiment will be described with reference to FIG. The microscope apparatus according to the fourth embodiment employs a scanning method different from that of the first embodiment.

図9は、実施例4の顕微鏡装置の構成を示すブロック図である。実施例1と同一構成要素には同一符合を付し、説明を省略する。   FIG. 9 is a block diagram illustrating a configuration of the microscope apparatus according to the fourth embodiment. The same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

図9に示すように、本実施例の顕微鏡装置では、レーザ光源からのレーザ光がスキャナユニット40に入射される。   As shown in FIG. 9, in the microscope apparatus of this embodiment, laser light from a laser light source is incident on the scanner unit 40.

スキャナユニット40は、レーザ光源に連結された光ファイバの先端からレーザ光を照射するレーザ光照射部41と、コリメータレンズ42とを備える。また、スキャナユニット40は、アレイ状にマイクロレンズが配置されたマイクロレンズディスク43と、同じパターンでピンホールが配置されたピンホールディスク44とを有し、それらは連結ドラム45で連結されるとともに、モータ46で一体的に回転可能な構成になっている。マイクロレンズディスク43とピンホールディスク44の間にはダイクロイックミラー47が配置されている。また、スキャナユニット40には蛍光フィルタ48、カメラレンズ49、カメラ50が配置されている。   The scanner unit 40 includes a laser light irradiation unit 41 that emits laser light from the tip of an optical fiber connected to a laser light source, and a collimator lens 42. The scanner unit 40 includes a microlens disk 43 in which microlenses are arranged in an array and a pinhole disk 44 in which pinholes are arranged in the same pattern, and these are connected by a connecting drum 45. The motor 46 can rotate integrally. A dichroic mirror 47 is disposed between the microlens disk 43 and the pinhole disk 44. The scanner unit 40 is provided with a fluorescent filter 48, a camera lens 49, and a camera 50.

スキャナユニット40のピンホールディスク44の下部には結像レンズ8と対物レンズ10が配置されている。対物レンズ10の瞳位置の近傍には実施例1と同様の分離フィルタ9が設けられている。この分離フィルタ9に代えて、実施例3の分離フィルタ9Aを用いてもよい。カメラ50とモータ46はコントローラ17に接続され、回転の同期と露光時間が調整されている。   The imaging lens 8 and the objective lens 10 are disposed below the pinhole disk 44 of the scanner unit 40. In the vicinity of the pupil position of the objective lens 10, a separation filter 9 similar to that of the first embodiment is provided. Instead of the separation filter 9, the separation filter 9A of the third embodiment may be used. The camera 50 and the motor 46 are connected to the controller 17, and the synchronization of rotation and the exposure time are adjusted.

次に、本実施例の顕微鏡装置の動作について説明する。   Next, the operation of the microscope apparatus of this embodiment will be described.

レーザ光照射部41における光ファイバの先端からの光は、コリメートレンズ42によって平行光へと変換される。この光はマイクロレンズディスク43に照射され、個々のマイクロレンズの作用によってダイクロイックミラー47を透過した後、ピンホールディスク44のマイクロレンズに対応するピンホール上で焦点を結ぶようになっている。   Light from the tip of the optical fiber in the laser light irradiation unit 41 is converted into parallel light by the collimator lens 42. This light is applied to the microlens disk 43, passes through the dichroic mirror 47 by the action of each microlens, and then focuses on the pinhole corresponding to the microlens of the pinhole disk 44.

ピンホールディスク44を通過した光は、結像レンズ8において、通過したピンホールディスク44のピンホールに対応する傾きを有する平行光に変換される。対物レンズ10に平行光が入射されると、その傾きに応じて焦点面に焦点を結像するので、対物レンズ10に入射された光はその傾きに対応した位置で焦点を結ぶ。   The light passing through the pinhole disk 44 is converted into parallel light having an inclination corresponding to the pinhole of the passed pinhole disk 44 in the imaging lens 8. When parallel light is incident on the objective lens 10, the focal point is imaged on the focal plane in accordance with the tilt, so that the light incident on the objective lens 10 is focused at a position corresponding to the tilt.

図9では光軸中心の光を実線で示し、光軸からずれた光線の例を破線で示す。焦点で発生した蛍光は、対物レンズ10で集められて平行光となる。ここで分離フィルタ9の効果によって、入射光は図9において対物レンズ10の右側から照射され、対物レンズ10の左側を通る光がフィルタ9を通過して、戻っていく(図3参照)。この蛍光は同じ光路を通って再びピンホールディスク44の同じピンホールを通過する。ここでピンホールを通過した光はダイクロイックミラー47によって反射されて蛍光フィルタ48で波長成分が選択され、カメラレンズ49の作用によりカメラ50で結像する。   In FIG. 9, the light at the center of the optical axis is indicated by a solid line, and an example of a light beam shifted from the optical axis is indicated by a broken line. The fluorescence generated at the focal point is collected by the objective lens 10 and becomes parallel light. Here, due to the effect of the separation filter 9, incident light is irradiated from the right side of the objective lens 10 in FIG. 9, and light passing through the left side of the objective lens 10 passes through the filter 9 and returns (see FIG. 3). This fluorescence passes through the same optical path and again passes through the same pinhole of the pinhole disk 44. Here, the light passing through the pinhole is reflected by the dichroic mirror 47, the wavelength component is selected by the fluorescent filter 48, and an image is formed by the camera 50 by the action of the camera lens 49.

ここでマイクロレンズディスク43とピンホールディスク44を一体的に回転させると、ピンホールを通過する光が、対応する焦点面上を走査し、さらに個々の蛍光は再び同じピンホールを通過した後に、カメラ50の撮像素子上を走査する。この動作によって焦点面の蛍光がカメラ50に投影されて観察が可能となる。また、この際に焦点面以外の光は、ピンホールをほとんど通過できないためにほとんどカメラ50に到達することができない。これによって、カメラ50は焦点面の光のみの共焦点画像を撮影することになる。   Here, when the microlens disc 43 and the pinhole disc 44 are integrally rotated, the light passing through the pinhole scans on the corresponding focal plane, and further, the individual fluorescence passes through the same pinhole again. The image sensor of the camera 50 is scanned. By this operation, the fluorescence of the focal plane is projected onto the camera 50 and can be observed. At this time, light other than the focal plane hardly reaches the camera 50 because it hardly passes through the pinhole. As a result, the camera 50 captures a confocal image of only the light on the focal plane.

また、図3のように右側から励起して、左側から検出しており、対物レンズ10の瞳を部分的にしか使用していないため、水平方向分解能はやや悪くなるが、図3のハッチング領域の蛍光が検出されるために、深さ方向分解能が優れている。   Further, as shown in FIG. 3, excitation is performed from the right side and detection is performed from the left side, and the pupil of the objective lens 10 is only partially used. Therefore, the depth resolution is excellent.

このとき、レーザ光の光軸と検出蛍光の光軸が概ね90度となるように構成するときに図3のハッチング領域が最も小さくなるので分解能に優れる。また、本実施例においても、レーザ光の光路と検出蛍光の光路が分離されているので、レーザ光が励起した図3のハッチング領域以外の蛍光が、容易には検出されなくなっており、深部観察時にSN良く画像が撮影できる。   At this time, when the optical axis of the laser beam and the optical axis of the detected fluorescence are set to approximately 90 degrees, the hatching area in FIG. Also in this embodiment, since the optical path of the laser beam and the optical path of the detection fluorescence are separated, the fluorescence other than the hatched region of FIG. 3 excited by the laser beam is not easily detected, and deep observation is performed. Sometimes images can be taken with good SN.

なお、試料近傍で、隣り合ったピンホールを通る光学系の光路どうしが重なると、SNの劣化を招くので、極力試料付近での光路が重ならないような間隔を有するピンホールパターンのピンホールディスク54等を採用することが望ましい。   It should be noted that if the optical paths of optical systems passing through adjacent pinholes overlap each other in the vicinity of the sample, the SN is deteriorated, so that a pinhole disk having a pinhole pattern having an interval such that the optical paths in the vicinity of the sample do not overlap as much as possible. It is desirable to adopt 54 or the like.

実施例4の顕微鏡装置では、ディスクの回転によりレーザ光を走査するスキャナユニット40を使用するので、実施例1の効果に加えて、走査速度が速いという利点がある。   In the microscope apparatus of the fourth embodiment, since the scanner unit 40 that scans the laser beam by rotating the disk is used, in addition to the effects of the first embodiment, there is an advantage that the scanning speed is high.

以下、図10を参照して、実施例5の顕微鏡装置について説明する。   Hereinafter, the microscope apparatus of Example 5 will be described with reference to FIG.

図10は、実施例4の顕微鏡装置における対物レンズ周辺の構成を示すブロック図である。図10は、実施例1と異なる部分を示しており、他の部分は実施例1と同様に構成されている。   FIG. 10 is a block diagram illustrating a configuration around the objective lens in the microscope apparatus according to the fourth embodiment. FIG. 10 shows parts different from the first embodiment, and other parts are configured in the same manner as in the first embodiment.

本実施例の顕微鏡装置では、結像レンズ8から試料12に至る光学的な構成が実施例1と異なっている。   In the microscope apparatus of the present embodiment, the optical configuration from the imaging lens 8 to the sample 12 is different from that of the first embodiment.

図10に示すように、本実施例ではダイクロイックミラー51を用いて、結像レンズ8から試料12に至る照明光の光路と検出系の光路を分離している。すなわち、結像レンズ8の先には、レーザ光の波長の光を反射しレーザ光の波長よりも長い波長の光を反射するダイクロイックミラー51が配置されている。さらにその近傍には3枚の反射ミラー52,53,54が配置されている。さらに対物レンズ10Aとして、比較的径の大きいものが選定されている。   As shown in FIG. 10, in this embodiment, a dichroic mirror 51 is used to separate the optical path of illumination light from the imaging lens 8 to the sample 12 and the optical path of the detection system. That is, a dichroic mirror 51 that reflects light having a wavelength of laser light and reflects light having a wavelength longer than that of the laser light is disposed at the tip of the imaging lens 8. Further, three reflection mirrors 52, 53, and 54 are arranged in the vicinity thereof. Further, an objective lens 10A having a relatively large diameter is selected.

このように構成された本実施例の顕微鏡装置では、結像レンズ8で平行光に変換された近赤外のレーザ光は、ダイクロイックミラー51およびミラー52で反射され、対物レンズ10Aに対して、その主軸に平行で主軸にオフセットした光として入射される。   In the microscope apparatus of the present embodiment configured as described above, the near-infrared laser light converted into parallel light by the imaging lens 8 is reflected by the dichroic mirror 51 and the mirror 52, and is applied to the objective lens 10A. Incident light enters the main axis and is offset from the main axis.

図10に示すように、光は試料12で焦点を結び、試料12からは蛍光が発せられる。この蛍光の一部は、図10に示すように照明光と対物レンズ10Aの主軸に対して対称となる別の光路を通って対物レンズ10Aで再び平行光に変換され、ミラー54およびミラー53で反射される。この蛍光は、蛍光の波長に対して透過特性を有するダイクロイックミラー51を透過して、照明光と同じ光路を戻る。以下は実施例1と同様に戻り、ダイクロイックミラー4を透過して検出器16で検出される(図1)。   As shown in FIG. 10, the light is focused on the sample 12, and fluorescence is emitted from the sample 12. A part of this fluorescence passes through another optical path which is symmetric with respect to the illumination light and the main axis of the objective lens 10A as shown in FIG. 10, and is converted again into parallel light by the objective lens 10A. Reflected. This fluorescence passes through the dichroic mirror 51 having transmission characteristics with respect to the wavelength of the fluorescence, and returns on the same optical path as the illumination light. The following returns in the same manner as in the first embodiment, passes through the dichroic mirror 4, and is detected by the detector 16 (FIG. 1).

実施例4の顕微鏡装置によれば、実施例1と同様、レーザ光を投光する光学系と、検出する光学系を分離したので、光軸方向の分解能に優れている。また、投光系の光学系と検出系の光学系とを別々に構成したので、投光系の光学系の通る様々な場所からのノイズとなる蛍光が、検出系の光路に入り難い構成となっており、極めてSN比が良く、組織の深部観察に適している。   According to the microscope apparatus of the fourth embodiment, as in the first embodiment, since the optical system for projecting laser light and the optical system for detection are separated, the resolution in the optical axis direction is excellent. In addition, since the optical system of the projection system and the optical system of the detection system are configured separately, the fluorescence that becomes noise from various places through which the optical system of the projection system passes is difficult to enter the optical path of the detection system. It has a very good S / N ratio and is suitable for deep tissue observation.

以下、図11を参照して、実施例6の顕微鏡装置について説明する。   Hereinafter, the microscope apparatus of Example 6 will be described with reference to FIG.

図11は、実施例6の顕微鏡装置1Bの構成を示すブロック図である。実施例1と同一構成要素には同一符合を付し、その説明は省略する。   FIG. 11 is a block diagram illustrating a configuration of the microscope apparatus 1B according to the sixth embodiment. The same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

実施例6の顕微鏡装置では、ライン状の光を投影する。本実施例の顕微鏡装置は、図示しないレーザ光からのレーザを照射するファイバ61を有する。ファイバ61の先には、コリメートレンズ62、シリンドリカルレンズ63、紙面に垂直方向に延びるスリットが開口したスリット部材64、および結像レンズ65がある。光走査ユニット5Aは紙面に垂直な回転軸で回転するガルバノミラー5aを有する。実施例1におけるガルバノミラー5b(図1)に代えて、固定ミラー68が配置されている。また、実施例1におけるピンホール部材15(図1)に代えて、紙面に垂直方向に延びるスリットが開口したスリット部材66が配置され、光検出器としてラインCCD67が用いられている。   In the microscope apparatus according to the sixth embodiment, line-shaped light is projected. The microscope apparatus of the present embodiment includes a fiber 61 that irradiates a laser beam (not shown). At the tip of the fiber 61, there are a collimating lens 62, a cylindrical lens 63, a slit member 64 having a slit extending in a direction perpendicular to the paper surface, and an imaging lens 65. The optical scanning unit 5A includes a galvanometer mirror 5a that rotates on a rotation axis perpendicular to the paper surface. Instead of the galvanometer mirror 5b (FIG. 1) in the first embodiment, a fixed mirror 68 is disposed. Further, in place of the pinhole member 15 (FIG. 1) in the first embodiment, a slit member 66 having a slit extending in a direction perpendicular to the paper surface is disposed, and a line CCD 67 is used as a photodetector.

以下、本実施例の顕微鏡装置1Bの動作について説明する。   Hereinafter, the operation of the microscope apparatus 1B of the present embodiment will be described.

レーザ光源からの光は、光ファイバ61によって点光源として伝えられ、コリメートレンズ62で平行光に変換され、シリンドリカルレンズ63によってライン状に集光される。この集光点に配置されたスリット63を通過した光は、結像レンズ64を通過する。   The light from the laser light source is transmitted as a point light source through the optical fiber 61, converted into parallel light by the collimating lens 62, and condensed into a line shape by the cylindrical lens 63. The light that has passed through the slit 63 disposed at the condensing point passes through the imaging lens 64.

この後、この光は図11に示すように、実施例1と同様の光路を介して対物レンズ10によって焦点面に結像され、紙面に垂直なライン状となる。このラインからの蛍光は対物レンズ10で回収されるが、ライン上の個々の点は、実施例1と同様、分離フィルタ9の効果で図3のハッチング領域のみの蛍光が回収される。この蛍光はレンズ系によってスリット部材66のスリットに再び結像され、このスリットを通過した焦点面からの光のみがラインCCD67で検出される。   Thereafter, as shown in FIG. 11, the light is imaged on the focal plane by the objective lens 10 through the same optical path as that of the first embodiment, and becomes a line shape perpendicular to the paper surface. Fluorescence from this line is collected by the objective lens 10, but each point on the line collects fluorescence only in the hatched region of FIG. 3 by the effect of the separation filter 9 as in the first embodiment. The fluorescence is imaged again on the slit of the slit member 66 by the lens system, and only the light from the focal plane that has passed through the slit is detected by the line CCD 67.

さらに、ガルバノミラー5aを操作することにより、ラインは焦点面上をラインに垂直な方向に走査され、この情報はラインCCD67で検出されて、コントローラ20で画像化される。   Further, by operating the galvanometer mirror 5a, the line is scanned on the focal plane in a direction perpendicular to the line, and this information is detected by the line CCD 67 and imaged by the controller 20.

実施例6の顕微鏡装置1Bでは、照明光の焦点の集合がライン状であるとともに、前記検出される検出点の集合もまた、焦点の集合に一致したライン状としたので、実施例1の効果に加えて、ラインを1方向に走査する構成にしたので走査時間を短縮できるという利点がある。   In the microscope apparatus 1B according to the sixth embodiment, the set of focal points of the illumination light is in a line shape, and the set of detected detection points is also in a line shape that matches the set of focus points. In addition, since the line is scanned in one direction, the scanning time can be shortened.

以下、図12を参照して、実施例7の顕微鏡装置について説明する。   Hereinafter, the microscope apparatus of Example 7 will be described with reference to FIG.

図12は、実施例7の顕微鏡装置1Cの構成を示すブロック図である。実施例1と同一構成要素には同一符合を付し、その説明は省略する。   FIG. 12 is a block diagram illustrating a configuration of a microscope apparatus 1C according to the seventh embodiment. The same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

本実施例の顕微鏡装置1Cは、投光光学系と検出光学系を完全に分離した構成をとる。   The microscope apparatus 1C of the present embodiment has a configuration in which the light projecting optical system and the detection optical system are completely separated.

図12に示すように、投光系の光学系は、実施例1における光路中のダイクロイックミラー4を用いていない。また、結像レンズ8の光は、対物レンズ10にオフセットして入射するようになっており、実施例1の分離フィルタ9は除去されている。また対物レンズ10で回収される蛍光は、投光系の光と対物レンズ12の光軸に対して対称となり、結像レンズ71、ミラー72、瞳投影レンズ73、2枚のガルバノミラー74a、74bを有する光走査ユニット74を有する。蛍光フィルタ13から光検出器16に至る光路は、実施例1と同様に構成されている。   As shown in FIG. 12, the optical system of the light projecting system does not use the dichroic mirror 4 in the optical path in the first embodiment. Further, the light from the imaging lens 8 is incident on the objective lens 10 with an offset, and the separation filter 9 of the first embodiment is removed. The fluorescence collected by the objective lens 10 is symmetrical with respect to the light of the projection system and the optical axis of the objective lens 12, and the imaging lens 71, mirror 72, pupil projection lens 73, and two galvanometer mirrors 74a and 74b. The optical scanning unit 74 having The optical path from the fluorescent filter 13 to the photodetector 16 is configured in the same manner as in the first embodiment.

本実施形態の顕微鏡装置1Cでは、レーザ光源2の光は、電動シャッタ3、光走査ユニット5、瞳投影レンズ6、反射ミラー7、結像レンズ8を介して、対物レンズ10に入射し、対物レンズ10によって焦点を結ぶ。焦点からの蛍光は対物レンズ10で回収される。このとき、結像レンズ8からの光が対物レンズ10にオフセットして入射し、回収される蛍光もオフセットした方向に回収されることで、実施例1と同様の効果で図3のハッチング領域のみからの蛍光が回収される。   In the microscope apparatus 1C of the present embodiment, the light from the laser light source 2 enters the objective lens 10 via the electric shutter 3, the optical scanning unit 5, the pupil projection lens 6, the reflection mirror 7, and the imaging lens 8, and the objective The lens 10 is focused. The fluorescence from the focal point is collected by the objective lens 10. At this time, the light from the imaging lens 8 is incident on the objective lens 10 with an offset, and the recovered fluorescence is also recovered in the offset direction, so that only the hatched region of FIG. Fluorescence from is recovered.

この蛍光は平行光に変えられて結像レンズ71を通りミラー72で反射し、瞳投影レンズ73によって、再び平行光に変換され、光操作ユニット74を通り、蛍光ファイル13で波長成分を選択される。その後、レンズ14の作用でピンホール15に集光され、レンズ14とピンホール15によって焦点面からの光のみが選択されて検出器16へ入る。   This fluorescence is converted into parallel light, reflected by the mirror 72 through the imaging lens 71, converted again into parallel light by the pupil projection lens 73, passed through the optical operation unit 74, and the wavelength component is selected by the fluorescence file 13. The Thereafter, the light is condensed into the pinhole 15 by the action of the lens 14, and only the light from the focal plane is selected by the lens 14 and the pinhole 15 and enters the detector 16.

また、コントロールユニット17は光走査ユニット5で焦点面上を走査させる時には、同期して光走査ユニット74を駆動して、光走査ユニット74に入る平行光の向きが変化しても、ピンホール15に向かう光の向きが変化しないように制御を行う。   Further, when the optical scanning unit 5 scans the focal plane, the control unit 17 drives the optical scanning unit 74 synchronously, and the pinhole 15 does not change even if the direction of the parallel light entering the optical scanning unit 74 changes. Control is performed so that the direction of the light toward the light does not change.

光検出器16からの出力信号は、コントロールユニット17へ導かれ、走査制御に同期してデジタル信号に変換され、走査位置と対応させて画像データを作成して表示モニタ18上に表示し、あるいは、画像データを内部のメモリに記憶する。   An output signal from the photodetector 16 is guided to the control unit 17 and converted into a digital signal in synchronization with the scanning control, and image data is created in correspondence with the scanning position and displayed on the display monitor 18, or The image data is stored in an internal memory.

このように、実施例7の顕微鏡装置1Cでは、照明光の光路と戻り光の光路とを別々の光学部品により構成し、光路を完全に分離したので、実施例1の効果に加えて、投光系の戻り光などの迷光を確実に除くことができるため、一層画像のSNが良くなるという効果がある。   As described above, in the microscope apparatus 1C of the seventh embodiment, the optical path of the illumination light and the optical path of the return light are configured by separate optical parts, and the optical paths are completely separated. Since stray light such as return light of the optical system can be surely removed, there is an effect that the SN of the image is further improved.

以下、図13および図14を参照して、実施例8の顕微鏡装置について説明する。   Hereinafter, the microscope apparatus according to the eighth embodiment will be described with reference to FIGS. 13 and 14.

図13は、実施例8の顕微鏡装置1Dの構成を示すブロック図、図14は、分離フィルタの機能を示す図である。実施例1と同一構成要素には同一符合を付し、その説明は省略する。   FIG. 13 is a block diagram illustrating the configuration of the microscope apparatus 1D according to the eighth embodiment, and FIG. 14 is a diagram illustrating the function of the separation filter. The same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

本実施例の顕微鏡装置は、戻り光が蛍光ではなく反射、散乱光である顕微鏡装置に本発明を適用したものである。   The microscope apparatus of the present embodiment is an application of the present invention to a microscope apparatus in which the return light is not fluorescence but reflected or scattered light.

図13に示すように、顕微鏡装置1Dでは、実施例1におけるダイクロイックミラー4の代わりに偏光ビームスプリッタ81が用いられ、蛍光フィルタ13の代わりに偏光フィルタ84が用いられる。また、分離フィルタ9の代わりに、偏光を用いた分離フィルタ82が用いられている。図14に示すように、分離フィルタ82の右側領域82aと左側領域82bは、それぞれ通過させる直線偏光の偏光方向が90度異なった偏光フィルタにより構成され、右側領域82aと左側領域82bの間には遮光領域82cが設けられている。さらに対物レンズ10の前には、1/4波長板83が挿入されている。   As shown in FIG. 13, in the microscope apparatus 1 </ b> D, a polarizing beam splitter 81 is used instead of the dichroic mirror 4 in the first embodiment, and a polarizing filter 84 is used instead of the fluorescent filter 13. Further, instead of the separation filter 9, a separation filter 82 using polarized light is used. As shown in FIG. 14, the right side region 82a and the left side region 82b of the separation filter 82 are each configured by a polarizing filter in which the polarization direction of linearly polarized light passing therethrough differs by 90 degrees, and between the right side region 82a and the left side region 82b. A light shielding region 82c is provided. Further, a quarter wave plate 83 is inserted in front of the objective lens 10.

このように構成された顕微鏡装置1Dでは、レーザ光は直線偏光を有し偏光ビームスプリッタ81で反射した後、実施例1と同様の光路を通り、分離フィルタ82に入る。ここでレーザ光の偏光を通すように構成された、分離フィルタ82の右側領域82aのみを透過する。この光は1/4波長板83で円偏光へと変換され、対物レンズ10によって焦点を結ぶ。焦点からの反射、散乱光は対物レンズ10で集められて、もう一度1/4波長板83を通過することにより、入射レーザとは90度偏光方向の異なる偏光となり、分離フィルタ82の左側領域82bを透過する。ここで戻り光は、右側領域82aとは偏光方向が90度異なっているので右側領域82aは透過できない。左側領域82bを透過した光は、レーザ光の光路を逆方向に戻り、今度は偏光ビームスプリッタ81を透過した後に、偏光フィルタ84でその偏光成分を選択され、ピンホール18を介して検出器19で検出される。   In the microscope apparatus 1D configured as described above, the laser light has linearly polarized light and is reflected by the polarization beam splitter 81, and then enters the separation filter 82 through the same optical path as in the first embodiment. Here, only the right region 82a of the separation filter 82, which is configured to pass the polarized light of the laser light, is transmitted. This light is converted into circularly polarized light by the quarter-wave plate 83 and focused by the objective lens 10. Reflected and scattered light from the focal point is collected by the objective lens 10 and once again passes through the quarter-wave plate 83 to become polarized light having a polarization direction different from that of the incident laser by 90 degrees. To Penetrate. Here, the return light cannot pass through the right region 82a because the polarization direction is 90 degrees different from that of the right region 82a. The light that has passed through the left region 82 b returns in the reverse direction of the optical path of the laser light. This time, after passing through the polarization beam splitter 81, the polarization component is selected by the polarization filter 84, and the detector 19 through the pinhole 18. Is detected.

このように、実施例8の顕微鏡装置によれば、生体深部の反射、散乱光を検出できるようになる。また、レーザ光を投光する光学系と、検出する光学系を分離したので、光軸方向の分解能に優れている。また、投光系の光学系と検出系の光学系とを別々に構成したので、投光系の光学系の通る様々な場所からのノイズとなる光が、検出系の光路に入り難い構成となっており、極めてSN比が良く、組織の深部観察に適している。   Thus, according to the microscope apparatus of Example 8, it becomes possible to detect reflection and scattered light in the deep part of the living body. Further, since the optical system for projecting laser light and the optical system for detection are separated, the resolution in the optical axis direction is excellent. In addition, since the optical system of the light projecting system and the optical system of the detection system are configured separately, the light that becomes noise from various places through the optical system of the light projecting system is difficult to enter the optical path of the detection system. It has a very good S / N ratio and is suitable for deep tissue observation.

以下、図15を参照して、実施例9の顕微鏡装置について説明する。   Hereinafter, the microscope apparatus of Example 9 will be described with reference to FIG.

図15は、実施例1の顕微鏡装置1に使用される分離フィルタ9に代えて使用される分離フィルタ9Bの構造を示す図である。他の要素は実施例1と同様である。   FIG. 15 is a diagram illustrating a structure of a separation filter 9B used in place of the separation filter 9 used in the microscope apparatus 1 according to the first embodiment. Other elements are the same as those in the first embodiment.

分離フィルタ9Bは、透過光を選択する領域を放射状に配置したものである。図15に示すように、分離フィルタ9Bはレーザ光のみを通過する領域91Bと、蛍光のみを通過する領域92Bと、遮光領域93Bとによって構成されている。領域91Bおよび領域92Bが、それぞれ光軸を対象点として対向した位置に配置されている。   The separation filter 9B is configured by radially arranging areas for selecting transmitted light. As shown in FIG. 15, the separation filter 9B is composed of a region 91B that passes only laser light, a region 92B that passes only fluorescence, and a light shielding region 93B. The region 91B and the region 92B are arranged at positions facing each other with the optical axis as a target point.

分離フィルタ9Bでは、投光系と検出系が対物レンズ10の瞳のそれぞれ向かいあう位置を使用するので、焦点が小さくなり、より分解能が向上する。   In the separation filter 9B, since the light projecting system and the detection system use positions where the pupils of the objective lens 10 face each other, the focal point is reduced and the resolution is further improved.

本発明の適用範囲は上記実施形態に限定されることはない。本発明は、照明光を対物レンズを介して照射することで照明光の焦点を試料に結ばせるとともに、焦点からの戻り光を対物レンズを介して取得して検出器で検出する顕微鏡装置に対し、広く適用することができる。   The scope of application of the present invention is not limited to the above embodiment. The present invention is directed to a microscope apparatus that irradiates illumination light through an objective lens to focus the illumination light on the sample and obtains return light from the focus through the objective lens and detects it with a detector. Can be widely applied.

実施例1の顕微鏡装置の構成を示すブロック図。1 is a block diagram illustrating a configuration of a microscope apparatus according to Embodiment 1. FIG. 分離フィルタの構造を示す図。The figure which shows the structure of a separation filter. 分離フィルタの機能を示す図。The figure which shows the function of a separation filter. 対物レンズの収束点近傍を示す図。The figure which shows the convergence point vicinity of an objective lens. 実施例2の顕微鏡装置の構成を示すブロック図。FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration of a microscope apparatus according to a second embodiment. 分離フィルタの構造を示す図。The figure which shows the structure of a separation filter. 分離フィルタの機能を示す図。The figure which shows the function of a separation filter. 対物レンズの収束点近傍を示す図。The figure which shows the convergence point vicinity of an objective lens. 実施例4の顕微鏡装置の構成を示すブロック図。FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration of a microscope apparatus according to a fourth embodiment. 対物レンズ周辺の構成を示すブロック図。The block diagram which shows the structure around an objective lens. 実施例6の顕微鏡装置の構成を示すブロック図。FIG. 10 is a block diagram illustrating a configuration of a microscope apparatus according to a sixth embodiment. 実施例7の顕微鏡装置の構成を示すブロック図。FIG. 9 is a block diagram illustrating a configuration of a microscope apparatus according to a seventh embodiment. 実施例8の顕微鏡装置の構成を示すブロック図。FIG. 10 is a block diagram illustrating a configuration of a microscope apparatus according to an eighth embodiment. 分離フィルタの機能を示す図。The figure which shows the function of a separation filter. 分離フィルタの構造を示す図。The figure which shows the structure of a separation filter.

符号の説明Explanation of symbols

9,9A,9B 分離フィルタ(光路制限手段)
10 対物レンズ
10A 対物レンズ
16 光検出器(検出器)
21 遮光マスク(光路制限手段)
40 スキャナユニット(光路制限手段)
51 ダイクロイックミラー(光路制限手段)
67 ラインCCD(検出器)
82 分離フィルタ(光路制限手段)
9, 9A, 9B Separation filter (optical path limiting means)
10 Objective Lens 10A Objective Lens 16 Photodetector (Detector)
21 Shading mask (optical path limiting means)
40 Scanner unit (optical path limiting means)
51 Dichroic mirror (optical path limiting means)
67 line CCD (detector)
82 Separation filter (optical path limiting means)

Claims (22)

照明光を対物レンズを介して照射することで前記照明光の焦点を前記試料に結ばせるとともに、前記焦点からの戻り光を前記対物レンズを介して取得して検出器で検出する顕微鏡装置において、
前記対物レンズから前記焦点に至る前記照明光の光路と、前記戻り光のうち、前記検出器で検出される光の前記焦点から前記対物レンズに至る光路とが、光路全体に渡り分離されていることを特徴とする顕微鏡装置。
In the microscope apparatus that irradiates illumination light through the objective lens to tie the focus of the illumination light to the sample, and obtains return light from the focus through the objective lens and detects it with a detector,
The optical path of the illumination light from the objective lens to the focal point and the optical path from the focal point of light detected by the detector to the objective lens among the return light are separated over the entire optical path. A microscope apparatus characterized by that.
前記戻り光が蛍光であることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡装置。 The microscope apparatus according to claim 1, wherein the return light is fluorescence. 前記戻り光が反射、散乱光であることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡装置。 The microscope apparatus according to claim 1, wherein the return light is reflected or scattered light. 前記照明光の焦点を前記対物レンズの焦点面で走査するとともに、走査された各々の焦点からの戻り光を前記検出器で検出することを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡装置。 The microscope apparatus according to claim 1, wherein the focus of the illumination light is scanned by a focal plane of the objective lens, and the return light from each scanned focus is detected by the detector. 前記照明光の焦点は、前記照明光の光路中のミラーを駆動することにより走査されることを特徴とする請求項4に記載の顕微鏡装置。 The microscope apparatus according to claim 4, wherein the focus of the illumination light is scanned by driving a mirror in an optical path of the illumination light. 前記照明光の焦点は、前記照明光の光路中のマスクパターン部材を駆動することにより走査されることを特徴とする請求項4に記載の顕微鏡装置。 The microscope apparatus according to claim 4, wherein the focus of the illumination light is scanned by driving a mask pattern member in an optical path of the illumination light. 前記対物レンズから前記焦点に至る前記照明光が前記対物レンズの瞳位置において通過する領域と、前記戻り光のうち前記検出器で検出される光が前記対物レンズの瞳位置において通過する領域とが、分離されていることを特徴とする請求項1記載の顕微鏡装置。 An area through which the illumination light from the objective lens to the focal point passes at the pupil position of the objective lens, and an area through which the light detected by the detector of the return light passes at the pupil position of the objective lens. The microscope apparatus according to claim 1, wherein the microscope apparatus is separated. 前記対物レンズの瞳位置において、前記瞳位置を横断する少なくとも1本以上の直線または曲線で分離される区分のそれぞれ別の区分に、前記照明光の通過する領域と前記戻り光の通過する領域が存在することを特徴とする請求項7記載の顕微鏡装置。 In the pupil position of the objective lens, a region through which the illumination light passes and a region through which the return light passes are in different sections separated by at least one straight line or curve crossing the pupil position. The microscope apparatus according to claim 7, wherein the microscope apparatus is present. 前記対物レンズの瞳位置において、前記瞳位置を横断する少なくとも2本以上の互いに交差する直線または曲線で放射状に分離される区分のそれぞれ別の区分に、前記照明光の通過する領域と前記戻り光の通過する領域が存在することを特徴とする請求項8記載の顕微鏡装置。 In the pupil position of the objective lens, the region through which the illumination light passes and the return light are divided into different sections radially separated by at least two or more intersecting straight lines or curves crossing the pupil position. The microscope apparatus according to claim 8, wherein there is a region through which to pass. 前記対物レンズの瞳位置において、前記瞳位置の内部に存在する少なくとも1本以上の閉じた直線または曲線でその内部と外部に分離される区分のそれぞれ別の区分に、前記照明光の通過する領域と前記戻り光の通過する領域が存在することを特徴とする請求項7記載の顕微鏡装置。 In the pupil position of the objective lens, the region through which the illumination light passes is divided into different sections separated into the interior and the exterior by at least one closed straight line or curve existing inside the pupil position. The microscope apparatus according to claim 7, wherein there is a region through which the return light passes. 前記対物レンズの瞳位置において、前記瞳位置の内部に存在する少なくとも1つの円の内部と外部に分離される区分のそれぞれ別の区分に、前記照明光の通過する領域と前記戻り光の通過する領域が存在することを特徴とする請求項10記載の顕微鏡装置。 At the pupil position of the objective lens, the region through which the illumination light passes and the return light pass through different sections that are separated into the inside and the outside of at least one circle existing inside the pupil position. The microscope apparatus according to claim 10, wherein a region exists. 前記戻り光の光路と、照明光の光路とを分離するための光路制限手段を設けたことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡装置。 2. The microscope apparatus according to claim 1, further comprising an optical path limiting unit for separating the optical path of the return light and the optical path of the illumination light. 前記戻り光は蛍光であり、前記光路制限手段として、波長特性を有するフィルタもしくはミラーを用い、前記検出器で検出される蛍光の光路を制限することを特徴とする請求項12に記載の顕微鏡装置。 The microscope apparatus according to claim 12, wherein the return light is fluorescence, and a filter or a mirror having wavelength characteristics is used as the optical path limiting means to limit the optical path of the fluorescence detected by the detector. . 前記光路制限手段として、波長特性を有するフィルタもしくはミラーを用い、前記対物レンズに入る照明光の光路を制限することを特徴とする請求項12に記載の顕微鏡装置。 13. The microscope apparatus according to claim 12, wherein a filter or a mirror having wavelength characteristics is used as the optical path limiting means to limit an optical path of illumination light entering the objective lens. 前記戻り光は反射、散乱光であり、前記光路制限手段として、偏光特性を有するフィルタもしくはミラーを用い、前記検出器で検出される戻り光の光路を制限することを特徴とする請求項12に記載の顕微鏡装置。 The return light is reflected or scattered light, and the optical path of the return light detected by the detector is limited by using a filter or a mirror having polarization characteristics as the optical path limiting means. The microscope apparatus described. 前記照明光の光路または前記戻り光の光路の一部が、前記光路制限手段としての遮光マスクによって制限されることを特徴とする請求項12に記載の顕微鏡装置。 13. The microscope apparatus according to claim 12, wherein a part of the optical path of the illumination light or a part of the optical path of the return light is limited by a light shielding mask as the optical path limiting unit. 前記光路制限手段を前記対物レンズの瞳位置近傍に設けたことを特徴とする請求項12に記載の顕微鏡装置。 The microscope apparatus according to claim 12, wherein the optical path limiting means is provided in the vicinity of a pupil position of the objective lens. 前記光路制限手段を前記対物レンズの瞳位置がリレーされた位置の近傍に設けたことを特徴とする請求項12に記載の顕微鏡装置。 13. The microscope apparatus according to claim 12, wherein the optical path limiting means is provided in the vicinity of a position where the pupil position of the objective lens is relayed. 前記光路制限手段を前記照明光または前記戻り光が平行光をなす光路の部分に設けたことを特徴とする請求項12に記載の顕微鏡装置。 13. The microscope apparatus according to claim 12, wherein the optical path limiting means is provided in a portion of an optical path where the illumination light or the return light forms parallel light. 前記照明光の光路と、前記戻り光の光路とを別々の光学部品により構成したことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡装置。 The microscope apparatus according to claim 1, wherein the optical path of the illumination light and the optical path of the return light are configured by separate optical components. 前記照明光の焦点の集合がライン状であるとともに、前記検出器による検出される検出点の集合もまた、前記焦点の集合に一致したライン状であることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡装置。 The set of the focal points of the illumination light is in a line shape, and the set of detection points detected by the detector is also a line shape that matches the set of focus points. Microscope device. 前記照明光が近赤外レーザ光であることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡装置。 The microscope apparatus according to claim 1, wherein the illumination light is near-infrared laser light.
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