5º Jornadas ITE - 2019 - Facultad de Ingeniería - UNLP
DISEÑO DE CIRCUITOS EN MICROELECTRÓNICA
Aróztegui Walter J., Sede Nahuel, Serrangeli Juan Lucas Serrangeli, Zubillaga Marcial
Agostini, Ricci Edgardo Nicolás, Rapallini José A.
UIDET de Técnicas Analógico-Digitales [CeTAD] - 116 y 48 - 2do piso - Departamento de
Electrotecnia – Facultad de Ingeniería – UNLP y Centro Asociado CIC – Prov. de Bs. As.
[email protected],
[email protected]
INTRODUCCIÓN
El presente artículo se enmarca en el proyecto “Microtecnologías y nuevos recursos de
sistemas digitales”, acreditado por la UNLP y el cual se desarrolla en la UIDET – CeTAD,
tiene como objetivo exponer el proceso de diseño, síntesis, fabricación y prueba de circuitos
microelectrónicos. En primer lugar, se presenta una breve descripción de la microelectrónica
digital. Luego, la creación de una biblioteca propia de celdas básicas, con el diseño de
compuertas lógicas y de algunos circuitos simples a partir de transistores MOSFET y una
lógica CMOS. Todo esto se realiza utilizando herramientas de software incluidas en la suite
Tanner EDA, con las cuales se realizan tanto esquemático y layout como las simulaciones
necesarias. Por otra parte, para comprender mejor el funcionamiento de este tipo de
circuitos, se realiza un estudio más profundo de las capacidades parásitas presentes y de
tiempos característicos de las celdas más elementales. A continuación, se muestra el
desarrollo de dos circuitos de mayor complejidad, realizados utilizando dos métodos de
diseño de microcircuitos diferentes: un detector de secuencia programable usando de celdas
estándar, y un conversor analógico-digital (ADC) del tipo doble rampa hecho con una técnica
full custom. Por último, se presentan conclusiones del trabajo realizado.
Diseño de microelectrónica digital y bibliotecas de celdas básicas.
El diseño físico [1], [2], [3], [4], [5] comienza con la elección de la tecnología. Esta decisión
define todas las reglas de diseño que usaremos y los costos de fabricación. La tecnología se
caracteriza principalmente por el ancho de canal de transistor mínimo que permite construir.
Esta dimensión y las diferentes limitaciones para cumplir son estrictamente definidas por
cada fabricante, puesto que dependen de sus procesos de fabricación. Los tamaños
convencionales son 28, 40, 65, 90, 130, 180, 350 y 500 nanómetros con transistores
MOSFET y una lógica CMOS. Para la realización de los diferentes diseños, se utilizó una
tecnología de 500 nanómetros, siguiendo las reglas de diseño del proceso AMI 0.5 del
fabricante. Esta elección se debe a la existencia de un programa educativo del servicio
MOSIS de la Universidad del Sur de California, el cual a través de convenios con diversos
fabricantes pone estas reglas a disposición de estudiantes y universidades, e incluso facilita
la fabricación gratuita de algunos diseños.
Una vez definida la tecnología se realiza la planificación (floorplaning). Es esencial
determinar si el diseño propuesto entraría en el área del chip destinada y poder estimar la
densidad de conectores, por lo que en esta etapa se estima el área de los mayores
componentes y su ubicación en el mismo. Es importante realizar una evaluación inicial tan
pronto como la lógica esté medianamente definida, puesto que las limitaciones de espacio
pueden hacer que sea necesario realizar cambios en la lógica (y las microarquitecturas). Se
trata de un proceso que requiere retroalimentación, la cual produce usualmente variaciones
en el planteamiento inicial. Cuando se planifica un diseño complejo, es muy útil realizar una
subdivisión jerárquica en bloques y unidades.
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La dificultad del planeamiento está en hacer una buena estimación de las áreas de cada
unidad sin entrar en el diseño detallado de la misma. Éstos deben tener unas dimensiones
previamente determinadas, para poder luego unir los necesarios y armar las conexiones
requeridas para los circuitos. Cuando se trabaja en un diseño totalmente personalizado, en
cambio, se generan todas las compuertas como un todo, consiguiéndose un diseño mucho
más complejo, pero más optimizado.
Los diseños presentados en este trabajo se realizan combinando ambos estilos.
Teniendo en cuenta las reglas básicas de diseño en microelectrónica son establecidas por
cada fabricante dependiendo de sus procesos de producción, se pueden generalizar en los
siguientes pasos: 1. Cantidad de capas de metal. 2. Cantidad de capas de polisilicio. 3.
Capas para dopar las zonas. 4. Materiales de alta resistencia, capacidad e inductancia. 5.
Distancias mínimas de colocación de materiales.
Para realizar los diseños, teniendo en cuenta las herramientas accesibles y asiendo hincapié
en la formación de conocimientos se realiza un flujo de diseño propio utilizando
herramientas de software incluidas en la suite Tanner EDA, con las cuales se realizan tanto
esquemático y layout como las simulaciones necesarias [6]
Los pasos realizados son: 1. Generación del diseño esquemático del circuito en el programa
S-Edit. 2. Simulación de dicho esquemático en el mismo programa. 3. Diseño del Layout del
circuito en el programa L-Edit. 4. Chequeo de reglas de diseño. 5. Verificación de
correspondencia entre el esquemático y el Layout en la herramienta LVS.
Cada paso es recursivo, es decir, se realiza una y se avanza al siguiente paso solo si se
logra lo esperado. Caso contrario, debe repetirse.
A partir de estas reglas se plantearon los diseños de celdas más básicas: Inversor,
Compuerta NAND, Compuerta OR, Compuertas AND y OR, Multiplexor, Transistores de
paso y compuertas de transmisión, Tri-estados y Circuitos secuenciales
Se presenta, a modo de ejemplo, en la [Fig. 1], uno de los diseños realizados y su
correspondiente simulación. [Fig. 2]
Figura 1 a) Esquemático compuerta NAND. b) Prueba
de la compuerta NAND c) Layout compuerta NAND
Figura 2 Resultados de simulación. a)
Entrada A. b) Entrada B. c) Salida Y
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Estudio de las capacidades parásitas y tiempos característicos de las celdas más
elementales para su utilización en diseños iniciales.
Para caracterizar el uso en un diseño con este tipo de circuitos, se realizan estimaciones de
tiempos de subida y bajada y tiempos de propagación de una compuerta inversora diseñada
en tecnología CMOS de 500 nm sin carga, permitiendo determinar el orden de frecuencias
que puede ser utilizado el dispositivo diseñado con cálculos muy sencillos [7]. Los
parámetros de diseño tenidos en cuenta por esta simulación fueron el largo y ancho del
canal y el ancho y área de drain y source. [Tabla I]
La simulación comparativa se realizó entre el modelo nivel 49 BSIM 3v3 del transistor
MOSFET, que utiliza cerca de 200 parámetros relacionados con dicha tecnología y la
propuesta de simplificación del análisis realizado en la propuesta que utiliza solamente 26
parámetros.
Realizados los cálculos se ve la relación de compromiso entre la complejidad en la
determinación de los tiempos analíticos y el análisis rápido propuesto, permitiendo dar el
orden de frecuencias a utilizarse en los dispositivos con una simple simulación en SPICE [8]
[Tabla II].
Desarrollo de circuitos de mayor complejidad:
Se muestra el desarrollo de dos circuitos de mayor complejidad, realizados utilizando dos
métodos de diseño de microcircuitos diferentes.
Detector de secuencia programable usando de celdas estándar [9]
Las características del detector es la siguiente: En base a una entrada de datos en serie, el
usuario podrá programar según convenga, la búsqueda de una secuencia de 4 bits
cualesquiera, y el circuito se encargará de avisar (dando una señal en la salida de ¨1¨ digital)
cuando encuentra dicha secuencia. Este aviso de detección de correspondencia se
presentará en alto únicamente por un ciclo de Clock, luego del mismo se procederá
nuevamente a la búsqueda de la secuencia seleccionada, no permitiendo en este caso el
solapamiento de bits.
Para la resolución de este problema se procede a la síntesis de una máquina de estados
finitos (MEF), donde, como es conocido existen dos tipos de planteo posibles, Moore y
Mealy [10][11][12]. Este tipo de dispositivo requiere tanto de compuertas lógicas como de
elementos de memoria (flip-flops) y de una entrada de Clock.
La diferencia entre estos dos tipos de máquina es que la salida del circuito, llamémosle Z, en
el primer caso es una función lógica que depende solamente de los estados de los flip-flops,
mientras que en el modelo de Mealy, la salida depende tanto de los estados de los flip-flops,
como de los datos de entrada.
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Diseño del LAYOUT [Fig. 3]
Se procedió a plantear el diseño global. utilizándose una tecnología de 0,5 nm y se
acordó separar la máquina en 3 partes principales. Esto disminuyó de manera significativa el
tamaño del pitch, permitiendo trabajar con división de las conexiones. En el caso que no se
hubiera separado, esto habría implicado ampliar el pitch hasta que se tenga por lo menos 24
conexiones sin contar las intracompuertas [1][4][5]. Separando los flip-flop utilizamos un
pitch que contenga 15 conexiones.
Figura 3. Layout del DDS
Conversor analógico-digital (ADC) del tipo doble rampa hecho con una técnica full
custom [13]
La creación del layout de este dispositivo fue elaborado abordando las partes principales del
mismo con una técnica full custom. Comprende el diseño con esta técnica de las etapas de
muestreo y retención (Sample and Hold o S&H) y generador de rampa de un conversor
analógico digital (ADC) del tipo doble rampa, utilizando y adaptando para ello un
amplificador operacional diseñado previamente [14]. Se incluyen también la lógica de control
y el contador necesarios para completar el conversor.
El tipo de conversor considerado basa su funcionamiento en la integración (carga de un
capacitor) de una tensión desconocida mediante una rampa durante un tiempo fijo. Una vez
finalizado dicho periodo se descarga al capacitor (con un nivel constante) y se mide el
tiempo que demora en hacerlo mediante una lógica digital junto con el correspondiente
circuito de control. El tiempo de descarga junto con el tiempo de carga serán los parámetros
que nos darán el resultado para luego cuantizarlo. En [Fig. 4] se puede apreciar un diagrama
en bloques del circuito propuesto.
Figura 4. Diagrama en bloques de ADC doble rampa propuesto.
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Para realizar lo planteado, se efectuó el análisis del funcionamiento de cada etapa y de este
tipo de conversores. Posteriormente mediante la utilización de herramientas de diseño y
simulación se verificó el desempeño y, finalmente, se realizó el layout correspondiente [Fig.
5].
Figura 5 Layout del ADC completo
RESULTADOS
Se observa en las simulaciones realizadas en cada caso, se ajustan correctamente en lo
referido al tipo de forma de onda esperada. También se realizaron mediciones de los
tiempos necesarios al excitar el sistema con diferentes niveles de tensión. Se aprecia que
existe una relación lineal entre los niveles de tensión y dichos tiempos, lo que aportará
simplicidad a la hora de interpretar y utilizar los valores digitales obtenidos. [Fig. 6]
Figura 6. Simulación del generador de rampa con distintas tensiones.
Para concluir, se observa también que la técnica presentada permite una mayor
optimización en el uso del espacio, lo cual puede ser muy importante cuando se busca
reducir las dimensiones del circuito. Como desventaja, se aprecia una mayor complejidad
para el diseño, lo cual inevitablemente obliga a una mayor dedicación de tiempo.
Es necesario mencionar que, como se dijo previamente y como se observa al mirar el diseño
completo, las únicas etapas en las que se realizó una optimización en el uso del espacio son
las de muestreo y retención y generación de rampa, ya que son de una complejidad
adecuada para su uso. Si el objetivo es realizar un conversor de tamaño mínimo, habría que
realizarlo con el resto del circuito.
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CONCLUSIONES.
Este trabajo permite un recorrido en el diseño de circuitos de complejidad creciente en
microelectrónica, profundizando en los diferentes temas necesarios para su elaboración.
Uno de los objetivos que, lamentablemente no se pudo cumplir hasta el momento, fue el de
terminar este trabajo con alguno de los diseños fabricado. El convenio entre nuestra
universidad y MOSIS (Servicio de la Universidad del Sur de California, EEUU) a través del
cual se podría lograr una fabricación gratuita, está a la firma de las autoridades de la FI y
UNLP. Esto impidió realizar las pruebas post-fabricación,
BIBLIOGRAFÍA
[1] P. Julian (2015) Circuitos Integrados Digitales CMOS. Análisis y Diseño. Alfaomega.
[2] Y. Tsividis (2010) Operation andModeling of the CMOS Transistor, 2nd. edition.McGrawHill.
[3] Y. Cheng, M. Chan, K. Hui, M. Jeng, Z. Liu, J. Huang, K. Chen, J. Chen, R. Tu, P. Ko, C.
Hu (1995) BSIM3v3Manual. Final Version.
[4] R. Baker (2010) CMOS, Circuit Design, Layout and Simulation, 3rd edition.Wiley-IEEE
Press.
[5] B. Razavi (2013) Fundamentals ofMicroelectronics, 2nd edition.Wiley.
[6] E. Ricci (2015) Informe técnico. TANNER EDA 14.1 CeTAD, UNLP
[7] E. Ricci, J. Serrangeli, M. Agostini, W. Aróztegui, J. Rapallini, M. Quijano, A. Quijano
(2016) Análisis de capacidades y estimación de tiempos de un inversor CMOS. VII Congreso
de microelectrónica aplicada. San Luis, Argentina.
[8] E. Ricci, J. Serrangeli, M. Agostini, W. Aróztegui (2017) Análisis de capacidades y
estimación de tiempos de compuertas NAND y NOR CMOS. VIII Congreso de
microelectrónica aplicada.Córdoba, Argentina.
[9] E. Ricci, N. Sede, B. Diez, S. Rossi Grad, W. Aróztegui, J. Rapallini (2016)
Implementación
en microelectrónica de detector de secuencia programable. VII Congreso de
microelectrónica aplicada. San Luis, Argentina.
[10] Taub – Schilling, Digital integrated circuits. McGraw – Hill. 1982.
[11] H. Taub, Circuitos digitales y microprocesadores. McGraw – Hill. 1982.
[12] R. Tocci, Sistemas Digitales: principios y aplicaciones. Prentice Hall. 1996
[13] N. Sede, J. Serrangeli, M. Agostini, E. Ricci,W. Aroztegui (2017) Diseño y simulación de
ADC doble rampa en tecnología de 500 nm. VIII Congreso de microelectrónica aplicada.
Córdoba, Argentina.
[14] M. Escobar, M. Capelletti, A. Cédola, J. Osio, J. Rapallini (2014) Sensor de Imagen
CMOS, diseño y fabricación. Informe de Trabajo Final. Facultad de Ingeniería, UNLP,
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Otras referencias consultadas:
[15] P. Gray, R.Mayer (1995) Análisis y diseño de circuitos integrados analógicos, 3ra
edición. Prentice Hall.
[16] K. Ogata (2002) Modern Control Engineering, 4th edition. Prentice-Hall.
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[18] A. Lutenberg, G. Venturino (2010) El progreso tecnológico, atado a la evolución de la
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[19] T. Chan, D. A. Johns, K.W.Martin (2011) Analog Integrated circuit desing, 2nd
edition.Wiley.
[20] M. Annaratone (1986) Digital CMOS circuit design. Kluwer Academic Publishers.
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