Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія
Перейти до навігації
Перейти до пошуку
![](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/8/84/Example_of_an_XPS_tool.jpg/220px-Example_of_an_XPS_tool.jpg)
Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (англ. X-ray photoelectron spectroscopy) — метод визначення елементного складу твердої поверхні шляхом бомбардування її рентгенівським випроміненням і реєстрації кількості утворених фотоелектронів як функції енергії (або частоти випромінення). Широко використовується для ідентифікації елементів, їх концентрацій та їх хімічного стану як у самому зразку, так і на його поверхні. У твердофазній комбінаторній хімії застосовується шляхом включення міченого атома у лінкер.
- Глосарій термінів з хімії / укладачі: Й. Опейда, О. Швайка ; Ін-т фізико-органічної хімії та вуглехімії ім. Л. М. Литвиненка НАН України, Донецький національний університет. — Донецьк : Вебер, 2008. — 738 с. — ISBN 978-966-335-206-0.
![]() |
Це незавершена стаття з хімії. Ви можете допомогти проєкту, виправивши або дописавши її. |
![]() |
Це незавершена стаття з фізики. Ви можете допомогти проєкту, виправивши або дописавши її. |