Kilépési munka
A szilárdtestfizikában kilépési munkának nevezik azt a minimális munkát, amelyet ahhoz kell befektetni, hogy egy szilárdtestbeli elektront vákuumenergiára juttassunk közvetlenül a szilárdtest felületén kívül. Ha a szilárdtest valamilyen elektromos erőtérben van, akkor a kilépési munkához nem tartozik hozzá az az energia, amit ahhoz kellene befektetni, hogy az elektront az erőtérből is eltávolítsuk. Tehát a kilépési munka egyszerű megfogalmazásban az elektronnak a szilárdtestből való kilépéséhez szükséges energiának felel meg.[1]
A kilépési munka szűkebb értelemben véve függ az anyagi minőségtől, de szilárdtestekre vonatkoztatva nem tekinthető tömbi anyagjellemzőnek: befolyásolja, hogy a szilárdtestnek milyen a felülete, például a felületi kristályszerkezete, felületi kristályrelaxációja, illetve található-e rajta egyéb anyagokból álló bevonat, vagy szennyeződés, stb. Szűkebb értelemben csak fémek esetén értelmezik,[2] azonban a kilépési munka koncepciója az elektronikus sávelméletben a félvezetőkre is értelmezhető.[1]
A szilárdtestfizika energiasáv-modelljében a kilépési munka a Fermi-potenciál és a szilárdtest körüli tér potenciálja közötti különbségnek az elemi töltéssel vett szorzataként fejezhető ki.[1][3]
Fizikai meghatározása
[szerkesztés]A jellemzően -vel jelölt kilépési munka az alábbiak szerint határozható meg:[3]
,
ahol az elektron töltése, a felület közelében érvényes vákuumbeli potenciál, pedig a Fermi-szint energiája, azaz a szilárdtest elektronjainak kémiai potenciálja. Ebből felel meg az elektron vákuumbeli energiájának a felület közelében. Tehát azt jellemzi, hogy mekkora energiát kell ahhoz befektetni, hogy az elektront a szilárdtest Fermi-energiájáról a szilárdtesten kívülre, a felület közelébe, nyugalmi állapotba juttassuk.
Ha a szilárdtesten vezető elektródát alakítunk ki, melyet feszültség alá helyezünk, a Fermi-szint megváltozik a szilárdtestben. Mivel a kilépési munka ettől a előfeszítéstől nem függ, ezért a fenti összefüggés értelmében a potenciál fog megváltozni:
.
Itt a szilárdtesten mérhető, földpotenciálhoz képesti feszültség.
A felületi elektromos potenciál függése a kilépési munkától azt eredményezi, hogy két különböző kilépési munkájú anyag közötti vákuumtartományban egyensúlyban is feszültségkülönbség alakul ki.
Elméleti háttere
[szerkesztés]A kilépési munka általános elméleti meghatározása, vagy magyarázata összetett feladat, ugyanis a szilárdtestek makroszkopikus fizikai jellemzőin és anyagjellemzőkön kívül mikroszkopikus hatások is befolyásolhatják. Pontos modelljéhez a felület közelében többek között felületkémiai és atomfizikai jelenségeket kellene figyelembe venni.
Léteznek azonban viszonylag jól alkalmazható speciális elméletek. Például fémek kilépési munkájának becslésére a jelliummodell (más néven zselémodell) alkalmazható,[4] mely homogén szilárdtestet feltételez, és az elektronsűrűség felületi oszcillációinak, illetve az elektromos állapotsűrűség felületen kívüli lecsengésének figyelembevételén alapul. A modell alapján magyarázható például, hogy a kilépési munka az anyag Wigner-Seitz-sugarának növekedésével csökkenő tendenciát mutat, azonban a jelliummodell nem ad teljes képet, csak durva becslésre alkalmazható. Későbbi elméletekben felmerült további jelenségek figyelembevétele a kilépési munka becslése során, ezek például az elektronok közti kicserélődési kölcsönhatás, egyes kvantumkorrelációs hatások, illetve a kristályrácsbeli effektus anizotrópiája.[5][6]
Egyes új eredmények rámutattak, hogy adott kristályszerkezetnél egyes fémek kilépési munkájának hőmérsékletfüggése jó közelítéssel modellezhető, mellyel az anyag mechanikai jellemzőinek hőmérsékletfüggésére is lehet következtetni.[7]
A kilépési munkát befolyásoló jelenségek
[szerkesztés]Az átfogó és teljes elméleti magyarázat hiánya ellenére a kilépési munka egyes tendenciái megfigyelhetők és bizonyos mértékig megadhatók:
- lazább pakolású ráccsal rendelkező fémek esetén kisebb, szoros pakolásúaknál magasabb az értéke,
- a ritkán pakolt kristálysíkok irányába eső felületek kilépési munkája jellemzően alacsonyabb, mint a szorosan pakolt síkok irányába eső felületeké,
- különbséget tesz a felületi rácsrelaxáció típusa is. stb.
Az alábbiakban sorra veszünk néhány jellemző hatást, melyet a modellekben igyekeznek figyelembe venni.
Felületi potenciáltér-zavarok
[szerkesztés]A vizsgált anyagtartomány felületén, ahol a szilárdtest kristályrácsa véget ér, különleges elektrosztatikus konfiguráció alakulhat ki, melynek egy típusa a dipólusként viselkedő felületi kettősréteg. A kettősréteg kialakulását sokféle folyamat okozhatja. Ilyenek például a felülethez elektrosztatikusan kötődő szennyező atomok, illetve a felületről levált elektronok által hátrahagyott gyengén pozitív tértartományok. Fémek esetén jellemző, hogy az elektronok a szilárdtest határfelületén nem ugrásszerű, inkább elnyúlt, enyhén hullámzó potenciálteret érzékelnek. A felület közelében az elektrosztatikus potenciál nem lépcsőszerűen változik, inkább hullámzó, zavaros, és térbeli eloszlása nehezen modellezhető.[5]
Dópolás hatása, és téreffektus
[szerkesztés]Félvezetők esetén a dópolás, azaz az anyag célzott szennyezése is hatással lehet a kilépési munkára. Mivel a dópolók felületi koncentrációja függ a felület közelében érvényes elektromos tértől, a tér így közvetve a félvezető kilépési munkájára is hatással van.
Elektromos tér esetén a vezetési sáv alja elhajlik, viszont a dópolók tömbi energiája miatt elképzelhető, hogy a Fermi-energia ehhez képest elmozdul. Azaz különféle dópoló anyagokkal elvileg beállítható lenne, hogy milyen legyen a félvezető anyag kilépési munkájának elektromos tértől való függése. Valójában a felületi állapotok miatt a felületi Fermi-energia beragadhat, ami ezt a hatást jellemzően gyengíti.[8][9]
Alkalmazásai
[szerkesztés]Termikus emisszió
[szerkesztés]A termikus emisszión alapuló eszközöknél alapvető jelentősége van, hogy az alkalmazott forrókatódnak milyen a kilépési munkája, ugyanis ez határozza meg, hogy adott teljesítmény mellett mekkora lesz a termikusan kibocsátott elektronok árama. Például a vákuumcsövekben alkalmazott izzószál kialakításakor alkalmazott volfrám igen magas hőmérsékletet elvisel, viszont magas a kilépési munkája (kb. 4,5 eV), ami gátat szab az elektronáramnak. Ezért a volfrámszálat nála alacsonyabb kilépési munkával bíró anyaggal (pl. tóriummal, vagy bárium-oxiddal) vonják be, mellyel az emisszió lényegesen növelhető. E módszerrel lehetőség van a forrókatód működési hőmérsékletének csökkentésére is, mellyel növelhető az eszköz élettartama.
Sávelhajlás hatásának becslése
[szerkesztés]A szilárdtesteszközök (például a félvezetőeszközök) tervezése során fontos szempont, hogy az eszközben az egymáson kialakított anyagi rétegek határfelületein milyen energiaviszonyok jellemzőek. Például fém és félvezető határfelületén a sávelhajlások következtében Schottky-gát alakulhat ki, félvezető átmeneten pedig energiasáv-eltérések lehetnek. A határfelületi energiasáv-elhajlások becslésekor figyelembe kell venni az anyagok kilépési munkáját.[10][11]
Vákuumbeli egyensúlyi térerősségek
[szerkesztés]Különböző szerkezetű határfelületek esetén a kilépési munka még elemi anyag esetén is változó lehet, de ezt a felületi szennyezők és egyéb inhomogenitások is befolyásolhatják. Ennek következményeképpen a vákuumbeli elektrosztatikus potenciál a felület közelében ingadozást mutathat. Egyes kísérletekben (például a Casimir-effektus[12] vizsgálata során, vagy például a Gravity Probe B[13] műholdkísérletben) nem engedhető meg efféle egyenetlenség. Ezen eszközökben például molibdénbevonatot alkalmazhatnak, annak ugyanis kevéssé függ a kilépési munkája a felületi szerkezetétől.[5]
Kontaktelektromosság
[szerkesztés]Ha két különböző anyagú, vezető felületet egymáshoz képest elmozdítunk egy térben, melyben elektromos térerősségbeli változások vannak, áram fog indulni. A vezetők felületi töltöttsége ugyanis a térerősség függvénye, melyet viszont a vezető felületek távolsága befolyásol. Az effektus akkor erős, ha a vezető felületek igen közel vannak egymáshoz, de még épp nem érintkeznek (ekkor ugyanis a töltéskülönbségek kiegyenlítődnének). A vezetők eredeti potenciálkülönbségét az okozza, hogy kilépési munkájuk különböző.
A jelenség makroszkopikusan úgy figyelhető meg, hogy ha különböző anyagú vezetőket érintünk össze, áram indul köztük. Bizonyos érzékeny elektronikai eszközökben az ilyen kontaktpotenciál okozta áram kárt okozhat.[14]
Mérési módszerei
[szerkesztés]Mivel bizonyos felületi jelenségek igen nagy függést mutatnak a kilépési munkától, viszont ennek elméleti meghatározása összetett és csak közelítésekkel lehetséges, így fontos szerepe van a kilépési munka mérésének. Egyes modellek egyszerű ökölszabályokat tudnak csak adni, míg más modellek a mért adatokra való függvényillesztéssel és egyéb módszerekkel kellően pontos empirikus leírást adhatnak. Nehezíti a vizsgálatot, hogy a kilépési munka az anyagi minőségen kívül függhet a felületi viszonyoktól, rácsirányoktól, szennyezőktől, a felületi rácsrelaxációtól, stb. A legtöbb módszer így a kilépési munka valamilyen szempontból átlagos felületi értékének mérésére alkalmazható.[15]
A kilépési munkától függő jelenségek széles körét alkalmazzák magának a kilépési munkának a mérésére, vannak azonban e módszerek között olyanok, amelyek történeti, vagy gyakorlati jelentőségük miatt kitűnnek. A mennyiség mérési módszereit két nagy csoportba szokás sorolni:
- Az abszolút mérési módszerek kalibráció nélkül teszik lehetővé a kilépési munka mérését.
- A relatív módszerek valamely referencia és a vizsgált anyag kilépésimunka-különbségét képesek meghatározni, így az abszolút érték valamiféle kalibrációval határozható meg, ha erre van lehetőség. Ezen módszerek jellemzően a kontaktpotenciál jelenségén alapulnak,
Mérése termikus emisszióval
[szerkesztés]Ha egy fém hőmérsékletét növeljük, elektronjai nagyobb energiaszinteket elérve képesekké válnak arra, hogy a felületen át az anyagot elhagyják. Egy másik, hidegebb, kollektornak nevezett fémmel az elektronok felfoghatók, áramuk mérhető.
Az egységnyi felületen át távozó elektronáram mértékét a Richardson–Dushmann-egyenlet fejezi ki az alábbi módon:
,
ahol az anyagra és elrendezésre jellemző Richardson-konstans, a hőmérséklet, pedig a Boltzmann-állandó. Ahhoz, hogy az emittált elektron átjusson a kollektorra, az alábbi energiagátat kell átlépnie:
.
E mérés egy másik változatában a kollektort nem egyszerűen a kibocsátott elektronok összegyűjtésére használják, ha ugyanis negatív előfeszítést alkalmaznak, csak azok az emittált elektronok jutnak el a forró katódról a kollektorra, melyek kilépés után még elegendő energiával rendelkeznek a záróirányú tér leküzdéséhez is. Az energiagát ez esetben a következő:[16]
,
ahol a kollektor-emitter előfeszítés, pedig a forrókatód hőmérséklete miatti Seebeck-feszültség. Ez utóbbit 10 mV-os nagyságrendje miatt gyakran nem veszik figyelembe, és látható, hogy így a küszöbenergia a kollektor kilépési munkájától és az előfeszítéstől függ.
A módszer nagy előnye, hogy nem a mért testet kell magas hőmérsékletre melegíteni, ezért nincsenek olyan magas követelmények a vizsgálható anyagok termikus jellemzőire, például olvadáspontjára, párolgására nézve.
Mérése téremisszióval
[szerkesztés]A fémek felületéről az elektronok annak ellenére is leléphetnek, hogy a potenciáltér a fémes tartomány peremén erősen lecsökken: amelynek az oka az alagúteffektus. Nagy térerősség esetén az elektronalagutazás valószínűsége megnövekszik.[17] A téremisszió hatására kialakuló elektronáram függését az elektromos tértől a Fowler–Nordheim-egyenlet adja meg az alábbiak szerint:
,
ahol a Planck-állandó, a szabad elektron nyugalmi tömege.
Mivel ezen módszerben igen nagy térerősség kialakítására van szükség a mérhető alagútáram eléréséhez, ezért – kihasználva a csúcshatást – hegyes, tűszerű mintákat alkalmaznak.
Mérése külső fotoeffektussal
[szerkesztés]Fotoelektromos kilépési munkának nevezzük azt a legkisebb energiát, mellyel egy fotonnak rendelkeznie kell ahhoz, hogy ha szilárdtestbeli elektronon elnyelődik, az elektront az anyagból a felületre, vákuumpotenciálra legyen képes juttatni. Ha a beérkező foton energiája ennél kicsivel nagyobb, fotoelektromos emisszió történik, melyet más néven külső fényelektromos jelenségnek is neveznek.
Ha a kilépési munkát ezen jelenségen alapuló méréssel kívánják meghatározni, akkor a termikus emissziós méréshez hasonlóan az emitter közelébe kollektor elektródát helyeznek a kilépett elektronok felfogására, illetve ezek áramának detektálására. A minimális fotonenergia, ami a szilárdtestből való kilépéshez szükséges, éppen egybeesik az emitter kilépési munkájával:
,
ahol a foton körfrekvenciája, a redukált Planck-állandó, pedig az emitter kilépési munkája.
A mérés geometriai jellemzői nagyban befolyásolhatják a mérési eredményt, így a mérőeszköz kialakításánál körültekintően kell eljárni.[15] Ezen kívül gondot jelenthet, ha az anyag sávszerkezete olyan, hogy az adott feszültség mellett a Fermi-energián nem feltétlenül van betöltött állapot. Ekkor ugyanis a legmagasabb energiájú betöltött állapotban levő elektronnak nem csak a -nek megfelelő energiakülönbséget kell átlépnie, hanem ehhez hozzáadódik állapotának energiája és a Fermi-energia különbsége is. Így például szennyezetlen félvezetőkben a fotoeffektussal emittált elektronok energiája inkább a vákuumszint és a vegyértéksáv különbségét jellemzi, mint a kilépési munkát.[18]
A termikus méréshez hasonlóan a fotoeffektuson alapuló mérést is szokták záróirányú térrel végezni. Ekkor a fentiekhez hasonlóan nem az emitter, hanem a kollektor jellemzői válnak mérhetővé.
Kelvin-szonda
[szerkesztés]A fémes felületek közötti kontaktpotenciált (azaz a Volta-potenciált) nem mérik feszültségmérővel, ez az eszköz ugyanis az összehasonlított testekben érvényes Fermi-energiát veti össze, annak különbségét jelzi ki. Ha két fémet kontaktusba hoztak, köztük beáll a termikus egyensúly, Fermi-energiájuk azonos szintre áll, tehát a feszültségmérő egyensúlyban nem mutatna potenciálkülönbséget.
A Kelvin-szonda arra szolgál, hogy a vizsgált fémek Fermi-energiája helyett a felületük közelében vákuumban kialakuló valódi térerősség összemérhetők legyenek. Ezért ez az eszköz alkalmazható arra, hogy két fém kilépési munkájának különbségét megmérjük.
A Kelvin-szonda a gyakorlatban egy vizsgált fém felülete és a saját felülete közötti vákuumbeli potenciálkülönbséget méri. A szondára egy feszültséget kötve a felületek között kialakuló elektromos tér változtatható. Ha -t úgy választják meg, hogy a Volta-potenciált éppen ellensúlyozva a felületek közötti térerősség éppen eltűnjön, akkor a potenciálviszonyokra érvényes lesz az alábbi összefüggés:
,
ahol a beállított előfeszítés, és pedig rendre a minta és a szonda anyagának kilépési munkája. Mivel értéke ismert, ezért a fenti összefüggésből a szonda anyagának kilépési munkája ismeretében a vizsgált anyagé meghatározható.
Felmerülhet a kérdés, hogy hogyan kell az eltűnő térerősséghez az előfeszítést megválasztani. A gyakorlatban úgy oldják meg a térerősség kinullázását, hogy a felületeket ciklikusan közelítik-távolítják. Ha elektromos tér van a felületek között, akkor ennek hatására a mozgó felületekben áram indukálódik az alábbi összefüggés szerint:
,
ahol az indukált áram, pedig a kapacitás időbeli változása. A megfelelő esetén viszont, amikor a tér éppen eltűnik, áram sem indukálódik.
A Kelvin-szonda jellemzően fémek és félvezetők kilépési munkájának mérésére szolgáló egyszerű, kontaktusmentes módszer. Ha szondának keskeny tűben végződő szondát alkalmazunk, a vizsgált anyag felületének kilépésimunka-változásai nagy térbeli felbontással letérképezhetők. Ezen az elven működik a Kelvin-szondás pásztázó mikroszkóp (angol megnevezéssel Kelvin-probe force microscope, KPFM).
Adattáblázat
[szerkesztés]Az alábbi táblázat néhány elemi anyag kilépési munkáját adja meg:[19]
Ag | 4,26 – 4,74 | Al | 4,06 – 4,26 | As | 3,75 |
Au | 5,10 – 5,47 | B | ~4,45 | Ba | 2,52 – 2,70 |
Be | 4,98 | Bi | 4,31 | C | ~5 |
Ca | 2,87 | Cd | 4,08 | Ce | 2,9 |
Co | 5 | Cr | 4,5 | Cs | 1,95 |
Cu | 4,53 – 5,10 | Eu | 2,5 | Fe | 4,67 – 4,81 |
Ga | 4,32 | Gd | 2,90 | Hf | 3,90 |
Hg | 4,475 | In | 4,09 | Ir | 5,00 – 5,67 |
K | 2,29 | La | 3,5 | Li | 2,9 |
Lu | ~3,3 | Mg | 3,66 | Mn | 4,1 |
Mo | 4,36 – 4,95 | Na | 2,36 | Nb | 3,95 – 4,87 |
Nd | 3,2 | Ni | 5,04 – 5,35 | Os | 5,93 |
Pb | 4,25 | Pd | 5,22 – 5,60 | Pt | 5,12 – 5,93 |
Rb | 2,261 | Re | 4,72 | Rh | 4,98 |
Ru | 4,71 | Sb | 4,55 – 4,70 | Sc | 3,5 |
Se | 5,9 | Si | 4,60 – 4,85 | Sm | 2,7 |
Sn | 4,42 | Sr | ~2,59 | Ta | 4,00 – 4,80 |
Tb | 3,00 | Te | 4,95 | Th | 3,4 |
Ti | 4,33 | Tl | ~3,84 | U | 3,63 – 3,90 |
V | 4,3 | W | 4,32 – 5,22 | Y | 3,1 |
Yb | 2,60[20] | Zn | 3,63 – 4,9 | Zr | 4,05 |
Jegyzetek
[szerkesztés]- ↑ a b c Sólyom 2010, 191. o.
- ↑ „Electronic work function | physics”, Encyclopedia Britannica (Hozzáférés: 2018. február 26.) (angol nyelvű)
- ↑ a b Kittel 1981.
- ↑ (1971) „Theory of Metal Surfaces: Work Function”. Physical Review B 3 (4), 1215. o. DOI:10.1103/PhysRevB.3.1215.
- ↑ a b c Metal surfaces 1a. venables.asu.edu. [2016. december 29-i dátummal az eredetiből archiválva]. (Hozzáférés: 2017. november 16.)
- ↑ Metal Surface Electron Physics. Elsevier (1996. november 4.). ISBN 9780080536347
- ↑ (2015. április 1.) „Variation in electron work function with temperature and its effect on the Young’s modulus of metals”. Scripta Materialia 99, 41–44. o. DOI:10.1016/j.scriptamat.2014.11.022.
- ↑ Semiconductor Free Surfaces. academic.brooklyn.cuny.edu. (Hozzáférés: 2017. november 17.)
- ↑ (1947) „Surface States and Rectification at a Metal Semi-Conductor Contact”. Physical Review 71 (10), 717. o. DOI:10.1103/PhysRev.71.717.
- ↑ Herbert Kroemer, "Quasi-Electric Fields and Band Offsets: Teaching Electrons New Tricks" Nobel lecture
- ↑ Barrier Height Correlations and Systematics. academic.brooklyn.cuny.edu. (Hozzáférés: 2017. november 16.)
- ↑ (2012) „Modeling electrostatic patch effects in Casimir force measurements”. Physical Review A 85. DOI:10.1103/PhysRevA.85.012504.
- ↑ (2011) „Finally, results from Gravity Probe B”. Physics 4. DOI:10.1103/Physics.4.43.
- ↑ (2009) „Controlling the Kinetics of Contact Electrification with Patterned Surfaces”. Journal of the American Chemical Society 131 (25), 8746–8747. o. DOI:10.1021/ja902862b. PMID 19499916.
- ↑ a b (2010) „Pitfalls in measuring work function using photoelectron spectroscopy”. Applied Surface Science 256 (8), 2602. o. DOI:10.1016/j.apsusc.2009.11.002.
- ↑ G.L. Kulcinski, "Thermionic Energy Conversion" [1] Archiválva 2017. november 17-i dátummal a Wayback Machine-ben
- ↑ Aruga, T (1989). „Alkali-metal adsorption on metals”. Progress in Surface Science 31 (1-2), 61–130. o, Kiadó: Elsevier BV. DOI:10.1016/0079-6816(89)90013-0. ISSN 0079-6816.
- ↑ Photoelectron Emission. www.virginia.edu. (Hozzáférés: 2017. november 17.)
- ↑ CRC Handbook of Chemistry and Physics version 2008, p. 12–114.
- ↑ M.V. Nikolić, S.M. Radić, V. Minić, M.M. Ristić (1996. február). „The dependence of the work function of rare earth metals on their electron structure”. Microelectronics Journal 27 (1), 93–96. o. DOI:10.1016/0026-2692(95)00097-6. ISSN 0026-2692. (Hozzáférés: 2019. június 8.)
Fordítás
[szerkesztés]Ez a szócikk részben vagy egészben a Work function című angol Wikipédia-szócikk ezen változatának fordításán alapul. Az eredeti cikk szerkesztőit annak laptörténete sorolja fel. Ez a jelzés csupán a megfogalmazás eredetét és a szerzői jogokat jelzi, nem szolgál a cikkben szereplő információk forrásmegjelöléseként.
Források
[szerkesztés]Szakkönyvek
[szerkesztés]- Charles Kittel: Bevezetés a szilárdtest-fizikába. Budapest: Műszaki Könyvkiadó. 1981.
- Sólyom Jenő: A modern szilárdtest-fizika alapjai II: Fémek, félvezetők, szupravezetők. Budapest: ELTE Eötvös Kiadó. 2010. ISBN 9789633120286
Folyóiratcikkek
[szerkesztés]- Michaelson, Herbert B. (1977. november 4.). „The work function of the elements and its periodicity”. J. Appl. Phys. 48, 4729. o. DOI:10.1063/1.323539.
- Zheng, W.T. (2003). „Modulating the work function of carbon by N or O addition and nanotip fabrication”. Solid State Communications 128 (9-10), 381–384. o, Kiadó: Elsevier BV. DOI:10.1016/j.ssc.2003.08.023. ISSN 0038-1098.
Tananyagok, ismeretterjesztő weblapok
[szerkesztés]- A fényelektromos hatás | Fizika - 11. évfolyam | Sulinet Tudásbázis. tudasbazis.sulinet.hu. (Hozzáférés: 2017. november 16.)
- A fotoeffektus. egyetemi segédlet. [2018. február 26-i dátummal az eredetiből archiválva]. (Hozzáférés: 2018. február 26.)
- Semiconductor Free Surfaces. academic.brooklyn.cuny.edu. (Hozzáférés: 2017. november 16.)
- Work Function of Metals - CleanEnergyWIKI (angol nyelven). photonicswiki.org. (Hozzáférés: 2018. február 26.)
További információk
[szerkesztés]Táblázatok
[szerkesztés]- Elemek kilépési munkája
- Szigetelő polimerek kilépési munkája (2.1. táblázat a könyvben)[halott link]
- Gyakori fémek kilépési munkája
- Egyes fémek kilépési munkája
Kapcsolódó szócikkek
[szerkesztés]