طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس
(تغییرمسیر از طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس)
طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس (X-ray Fluorescence Spectroscopy) با نام متداول XRF، یک تکنیک آنالیز عنصری است که کاربرد گسترده‌ای در تحقیقات و صنعت دارد. امکان آنالیز کمی و کیفی عنصری (از سدیم تا اورانیوم) با این روش وجود دارد. به علت سهولت نسبی آماده‌سازی نمونه، هزینهٔ آنالیزی مناسب، پایداری و کاربری آسان، انجام آنالیز کمی و کیفی، این روش یکی از روش‌های اصلی برای آنالیز عناصر اصلی (Major) و جرئی (Trace) نمونه‌های معدنی است.
این پدیده به‌طور گسترده برای تجزیه و تحلیل عناصر و آنالیز شیمیایی به ویژه در بررسی فلزات، شیشه، سرامیک، مصالح ساختمانی و همچنین تحقیق در زمینهٔ ژئوشیمی، علوم پزشکی قانونی، باستان‌شناسی و اشیاء هنری[۱] مانند نقاشی[۲] و نقاشی دیواری استفاده می‌شود.
جستارهای وابسته
[ویرایش]
منابع
[ویرایش]- ↑ de Viguerie, Laurence; Sole, V. Armando; Walter, Philippe (Fall 2009). "Multilayers quantitative X-ray fluorescence analysis applied to easel paintings". Analytical and Bioanalytical Chemistry. 395 (7): 2015–2020. doi:10.1007/s00216-009-2997-0. ISSN 1618-2650. PMID 19688344.
- ↑ «X-Ray Fluorescence». ColourLex (به انگلیسی). دریافت‌شده در ۲۰۲۳-۱۰-۳۰.
پیوند به بیرون
[ویرایش]- Spectroscopy در کرلی
| ابزار اندازه‌گیری | |
|---|---|
| روش‌ها | |
| نمونه‌برداری | |
| کالیبراسیون | |
| نشریات علمی و مجله‌ها | |
